MgB_2超伝導膜に挿入したNi極薄層のピンニング効果
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 2006-11-15
著者
-
土井 俊哉
鹿児島大学理工
-
波多 聰
九州大学大学院総合理工学研究院
-
白樂 善則
鹿児島大学大学院理工学研究科
-
北口 仁
物質・材料研究機構
-
桑野 範之
九州大学
-
吉留 健
九州大学
-
桑野 範之
九州大学先端科学技術共同研究センター
-
波多 聡
九大
-
日高 佑貴
鹿児島大
-
増田 和幸
鹿児島大
-
福山 寛大
鹿児島大
-
桑野 範之
九州大学産学連携センター
-
日高 佑貴
鹿児島大学
-
福山 寛大
鹿児島大学
-
増田 和幸
鹿児島大学
-
波多 聡
九州大学
-
白樂 善則
鹿児島大学工学部
-
土井 俊哉
鹿児島大学工学部
-
Kuwano Noriyuki
Department Of Materials Science And Technology Kyushu University
-
Kuwano Noriyuki
Art Science And Technology Center For Cooperative Research
-
土井 俊哉
鹿児島大学大学院理工学研究科
関連論文
- 24pWH-2 デラフォサイト型銅酸化物CuCr_Mg_xO2_の比熱(遷移金属酸化物・化合物,領域8,強相関係:高温超伝導,強相関f電子系など)
- 24pZR-12 デラフォサイト型銅酸化物CuCr_(Ca,Mg)_xO_2の磁気・輸送特性(24pZR Ti系・その他,領域8(強相関系:高温超伝導,強相関f電子系など))
- 25aZQ-7 スピネル型酸化物CuCr_Mg_xO_4の磁気・輸送特性(25aZQ スピネル・パイロクロア,領域8(強相関係:高温超伝導,強相関f電子系など))
- Premix-PICT 拡散法で作製したMgB_2超伝導バルク体の臨界電流特性に及ぼす微細組織の影響
- V添加10Crフェライト鋼におけるラス境界析出物の3D電子線トモグラフィー観察
- Ni層間隔を変化させて作製したMgB_2/Ni多層膜の作製と超伝導特性
- 電子線トモグラフィーによる格子欠陥の3次元可視化
- 配向Cuテープ上に形成したYBa_2Cu_3O_7超伝導薄膜に与えるCeO_2バッファ層厚の影響
- {100}集合組織Cuテープ上への2軸配向YBa_2Cu_3O_7薄膜の作製
- 配向Cu/SUSテープ上へYSZ中間層厚さを変えて作製したYBCO薄膜
- 配向Cu/SUSクラッドテープ上への2軸配向YBCO薄膜の作製
- MgB_2多結晶バルク体の力学特性
- Ni4Mo短範囲規則合金のHRTEM像シミュレーション
- FETEMによるNi-Mo短範囲規則合金のHRTEM像コントラスト
- Ni_4Mo短範囲規則合金のHRTEM像シミュレーション
- α-アルミナ単結晶における破面の3D電子線トモグラフィー観察
- 透過電子顕微鏡暗視野トモグラフィーによる規則合金ドメインの三次元観察
- 電子線トモグラフィーによる結晶材料組織の3次元可視化
- TEM暗視野トモグラフィーによるNi_4Mo規則相バリアントの3D形態観察
- 暗視野TEMトモグラフィーによるNi-Al-Ti合金中のγ'規則析出粒子に析出したγ相の3次元観察
- 暗視野TEMトモグラフィーによるD1_a型Ni_4Mo規則析出粒子の3次元観察
- 合金の短範囲規則状態の微視的構造
- 暗視野TEMトモグラフィーによるNi-Al-Ti合金中のγ'規則析出粒子に析出したγ相の3次元観察
- 特集「顕微鏡法による材料開発のための微細構造研究最前線(9)」 : -先端顕微鏡法開発がもたらす材料科学の新たな展開-企画にあたって
- FIBによる生体硬組織薄膜化とTEM観察
- Premix-PICT 拡散法で作製したMgB_2バルク体のJ_c特性と微細組織
- MgB_2多結晶バルク体の粒界性格の解析
- 薄片化したα-アルミナの応力拡大係数と亀裂進展挙動
- 電子ビーム蒸着法により作製したMgB_2/Ni多層薄膜の磁束ピンニング特性
- 電子ビーム蒸着法で作製したMgB_2/Ni多層膜の2次元磁束ピンニング特性
- 電子線トモグラフィーによる格子欠陥の3次元可視化
- 20m長{110}集合組織銀テープの配向性と均一性
- コイルばねクリープ試験法によるSn系はんだ合金の低応力域における高温変形挙動
- 添加物を施した等方性厚膜磁石
- 極薄X(X:Ni,B)層を人工ピンとして導入したMgB_2薄膜のマッチング磁場とX層間隔
- MgB_2/B多層膜の作製と超伝導特性
- 組成を変化させて作製したMgB_薄膜の超伝導特性
- MgB_2/Ni多層膜のJ_c-B特性
- MgB_2/B多層膜のJ_cの磁場依存性
- [001]傾角粒界におけるBi2212薄膜の臨界電流特性
- 人工ピンとしてナノオーダーB層を挿入したMgB_2薄膜のJ_c-B特性
- MgB_2線材の微細組織に及ぼす炭素系物質添加の影響
- チオフェンを添加した in-situ MgB_2 線材のTEM観察
- 第三高調波電圧誘導法を用いた高温超伝導体の臨界電流密度の非破壊測定
- 6000系アルミニウム合金の立方体方位粒形成過程
- 電子ビーム蒸着法で作製したMgB_2薄膜の微細組織の組成依存性
- EBE法によって作製された MgB2/Ni 多層膜の磁束ピンニング特性
- 電子ビーム蒸着法により作製したMgB_2/Ni多層薄膜の磁束ピンニング特性
- Si基板上MgB_2薄膜の磁束ピンニング特性に対する酸素導入効果
- 電子ビーム蒸着法により作製したMgB_2薄膜におけるピンニング特性の印加磁場角度依存性
- 電子ビーム蒸着法により作製したMgB_2薄膜のピンニング特性(II)
- 高密度MgB_2バルクのTEM観察
- 人工ピンとしてナノオーダーNi層を挿入したMgB_2薄膜のJ_c-B特性
- MgB_2超伝導膜に挿入したNi極薄層のピンニング効果
- ナノオーダーNi層を導入したMgB_2薄膜の微細組織観察
- 成膜時に酸素を導入したMgB_2薄膜の微細組織
- ナノ積層構造によるMgB_2薄膜へのピンニングセンターの導入
- SiCナノ粒子を添加したMgB_2超伝導線材のTEMによる微細構造解析
- YSZ/Hastelloy 基板上に蒸着したMgB_2薄膜の微細組織
- NiめっきCu/SUS316貼合せテープ上へのYBa_2Cu_3O_7厚膜の作製
- 配向Cuテープ上への2軸配向YBCO薄膜の作製とJ_c-B特性
- Y系線材用Niめっき配向Cuテープの配向度と磁性
- 組成を変化させて作製したMgB_薄膜の超伝導特性
- Niめっき配向Cuテープ上へのYBCO薄膜の作製
- 配向Cuテープ上に形成したYBCO超伝導薄膜特性に与えるYSZバッファ層厚さの影響
- 配向Cuテープ上に形成した2軸配向YBCO薄膜のJ_c-B特性
- YBa_2Cu_3O_7薄膜のO_2アニール時間による臨界電流密度変化
- 立方体集合組織を有するNiテープ上にエピタキシャル成長させた酸化物中間層とYBa_2Cu_3O_7超伝導物質
- {100}Agテープ上に作製したY-123/La-123膜の配向性
- 電子ビーム蒸着法により作製したMgB_2薄膜のピンニングセンター
- 電子ビーム蒸着法によるMgB_2薄膜の作製とアニール効果
- PLD法により{110}Agテープ上に作製したY-123膜の特性
- Y系線材用{210}集合組織銀合金テープの開発
- {110}集合組織銀テープ上にMOD法により作製したY-123膜
- {100}集合組織を有する銀テープ上に作製したRE-123膜の特性
- {100}配向銀テープ上に作製したNd-123膜の超伝導特性
- {110}配向銀テープとその上に形成したY-123超伝導膜
- 配向Niテープ上への導電性ITO中間層の作製
- スパッタリング法およびEB蒸着法によるMgB_2薄膜の作製
- スパッタリングによるMgB_2薄膜の作製と2段階アニーリング効果
- 鹿児島大学における超電導研究
- Agテープを基材としたYBCOテープの長尺・高速合成
- CVD法によりAg基材上へ合成したYBCO膜の特性(5)
- Agテープ上に無中間層で形成した2軸配向Nd123膜
- MOD法により作製した配向銀基板上YBCO膜の超電導特性
- RF スパッタリング法により作製された MgB_2 薄膜のピンニング特性
- 電子ビーム蒸着法により作製したMgB_2薄膜のピンニング特性
- SQUID磁束計を用いた桜島火山での地磁気計測
- 困った時の異分野技術
- {110}銀テープ上にMOD法により作製したY-123膜の特性
- ナノオーダーNi層導入によるMgB_2薄膜のJ_c向上
- 銀テープ上に無中間層で形成した2軸配向Sm123膜
- 銅配向基板を用いたYBa_2Cu_3O_超電導線材の微細構造観察
- 配向銀テープ上に形成したY-123薄膜の結晶配向性
- SQUID磁束計を用いた桜島火山での地磁気計測
- Alテープ上への超伝導MgB_2薄膜の作製と特性評価
- バッファ層にCeO_2/Y_2O_3/CeO_2を用いたNiめっきCu/SUS316貼合せテープ上へのYBa_2Cu_3O_7超電導厚膜の作製
- AIテープ基板上に作製した無添加MgB2薄膜の輸送特性
- 電子ビーム蒸着法によってAIテープ基板上に作製したMgB2薄膜の輸送特性
- 第三高調波電圧誘導法を用いた高温超電導薄膜の磁場中臨界電流密度の測定