Electrical Stabilization of Diamond MIS Interface by Employing BaF_2 Insulator Film and Application to Diamond MISFETs
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概要
- 論文の詳細を見る
- 1998-09-07
著者
-
小林 孝嘉
東京大学理学系研究科
-
Tanaka Hiroyuki
Graduate School of Pharmaceutical Sciences, Kyushu University
-
Yun Young
Department Of Electrical Engineering Faculty Of Engineering Science Osaka University
-
Ito A
Nihon Univ. Chiba Jpn
-
Itoh Akihiro
Department Of Physical Science Graduate School Of Engineering Science Osaka University:core Research
-
ITO Akihiro
Graduate School of Engineering Science, Osaka University
-
YUN Young
Graduate School of Engineering Science, Osaka University
-
MAKI Tetsuro
Graduate School of Engineering Science, Osaka University
-
KOBAYASHI Takeshi
Graduate School of Engineering Science, Osaka University
-
Maki Tetsuro
Department Of Physical Science Graduate School Of Engineering Science Osaka University:core Research
-
Maki Tetsuro
Graduate School Of Engineering Science Osaka University
-
YUN Young
Semiconductor Device Research Center, Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.
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Yun Young
Semiconductor Device Research Center Matsushita Electric Industrial Co. Ltd.
-
Maki T
Osaka Univ. Osaka Jpn
-
Tanaka Hiroyuki
Graduate School Of Pharmaceutical Sciences Kyushu University
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Tanaka Hiroyuki
Department of Electrical Engineering, Faculty of engineering Science, Osaka University
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