X-Ray Photoelectron Spectroscopy Characterization of Diamond Thin Film Surfaces for Electronic Device Application
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概要
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- 社団法人応用物理学会の論文
- 2000-06-15
著者
-
小林 孝嘉
東京大学理学系研究科
-
ITO Akihiro
Department of Cancer Research, Hiroshima University
-
MAKI Tetsuro
Department of Electrical Engineering, Faculty of Engineering Science, Osaka University
-
KOBAYASHI Takeshi
Department of Electrical Engineering, Faculty of Engineering Science, Osaka University
-
Ito A
Nihon Univ. Chiba Jpn
-
Itoh Akihiro
Department Of Physical Science Graduate School Of Engineering Science Osaka University:core Research
-
Aoki Masahiko
Ion Engineering Research Institute Corporation
-
KAWAMURA Hideki
Department of Physical Science, Graduate School of Engineering Science, Osaka University
-
KAJIYAMA Kenji
Ion Engineering Research Institute Corporation
-
Kobayashi Takeshi
Department Of Biological Chemistry College Of Bioscience And Biotechnology Chubu University
-
Maki Tetsuro
Department Of Physical Science Graduate School Of Engineering Science Osaka University:core Research
-
Maki Tetsuro
Department Of Electrical Engineering Faculty Of Engineering Science Osaka University
-
Maki Tetsuro
Graduate School Of Engineering Science Osaka University
-
Kawamura H
Himeji Inst. Technol. Hyogo Jpn
-
Ito Akihiro
Department Of Cancer Research Institute Of Radiation Biology And Medicine Hiroshima University
-
Maki T
Osaka Univ. Osaka Jpn
-
Kajiyama Kenji
Ion Engineering Research Institute Co.
-
Kajiyama Kenji
Ion Engineering Research Institute
-
Kawamura Hideki
Department of Physical Science, Graduate School of Engineering Science, Osaka University:Core Research for Evolutional Science & Technology (CREST), Japan Science and Technology Corporation
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