フッ素添加酸化膜の構造解析
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 1997-06-05
著者
-
吉川 正信
(株)東レリサーチセンター
-
永井 直人
東レリサーチセンター
-
吉川 正信
東レリサーチセンター
-
石田 英之
東レリサーチセンター
-
松延 剛
東レリサーチセンター
-
永井 直人
(株)東レリサーチセンター
-
石田 英之
東レリサーチセ
-
永井 直人
東レリサーチセンター(株)
-
松延 剛
(株)東レリサーチセンター
関連論文
- ラマン散乱分光法によるシリコンのひずみ・応力評価
- ラマン分光法によるダイヤモンド状炭素膜の構造評価
- フッ素添加酸化膜の構造解析
- ラマン分光法による表面・薄膜の構造評価
- ラマン分光分析
- 全反射ラマン分光法による薄膜の分子構造, 分子配向及び屈折率の異方性の評価(表面・界面・薄膜と分析化学)
- 低誘電率層間絶縁膜(Low-k 膜)の物性評価
- 日本分光学会50周年記念座談会21世紀の分光学と日本分光学会
- 表面科学シリ-ズ-5-ラマン分光を用いた表面分析--基礎と応用
- 赤外分光法とラマン分光法 (高分子のキャラクタリゼ-ション)
- 劣化ポリカーボネート樹脂の強度および組成の深さ方向分析
- 顕微赤外および顕微ラマン分光法による微小物の構造解析 (局所・超微量分析)
- ラマンマイクロプローブによる環境中のアスベストの分析
- 低温下におけるCO_2の2.0μm帯の吸収線強度と半値半幅
- COの第一倍音帯の低温下における吸収線パラメータの測定
- 低温下におけるCOの(2-0)帯の線強度及び半値半幅
- 2.0μmに存在するCO_2吸収帯の半値半幅の測定
- CO_2の2.0μm帯の吸収線強度の測定
- COの第二倍音帯の吸収線パラメータの測定
- N_2Oの半値半幅の測定
- COの(2-0)吸収帯の線強度及び半値半幅の測定
- CO_2の1.6μm吸収帯の吸収線強度及び半値半幅の測定
- 2.0, 2.1及び2.3μm N_2O吸収帯の吸収線パラメータの測定
- 近赤外領域におけるメタン,二酸化炭素の吸収線強度の測定
- メタン2ν_3帯内R(0), R(1), Q(1)及びP(1)吸収線の線強度と半値半幅の測定及びその温度依存性
- 顕微ラマンと顕微赤外分光法 (キャラクタリゼ-ションの新しい展開)
- レーザーラマンを用いた成形品構造の評価技術
- 2PA06 LCDセルの注入口クロマト現象の解析(分析的アプローチ) : 実セルでの注入口部表示不良の原因解析
- 2PA05 LCDセル周辺部電圧保持率低下の原因解析
- 高分子の配向・配列制御の評価法
- 3C05 LCDセル注入口部電圧保持率低下の原因解析
- FTラマン分光法
- 1A12 ラビングしたポリイミド配向膜と液晶分子との相互作用
- 分光学的手法による微小部の状態分析
- ISSG膜の構造解析
- 3G601 ラビングした液晶配向膜の分子配向挙動についての分光学的研究
- 3B03 光のパネルに及ぼす影響 : レーザー照射によるパネル内の変化
- テラヘルツ波分光による工業材料分析
- 紫外励起近接場ラマン顕微鏡によるシリコン半導体の二次元応力評価
- 分子配列の評価
- 特別講演4 固体高分解能NMRの合成高分子への応用
- 31a-PS-51 Bi-Pb-Sr-Ca-Cu-O超伝導体の光学スペクトル(31a PS 低温(酸化物超伝導))