終端開放形同軸プローブを用いた複素誘電率と複素透磁率の測定に対する不確定性解析
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概要
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計算、モデリング、測定などに関連した誤差原因の系統的な考察の基に、不確定性連立方程式が終端開放形同軸プローブを用いた複素電磁パラメータ, 即ち複素誘電率および複素透磁率の測定に対して確立された。数値解析は、測定精度に同軸線路のサイズの影響を考慮し、不確定性と測定材料の膜厚(と)の関係を「膜厚変化法」に基づいて3次元等高線図として示される。測定誤差と理論的不確定性予測の比較は、我々の定式化の有効性を確認する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-05-12
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