GMRヘッドにおけるESD起因のバルクハウゼンノイズの解析
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概要
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- 2003-11-07
著者
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市原 貴幸
株式会社 日立製作所 研究開発本部 ストレージテクノロジー研究センタ
-
大津 孝佳
(株)日立グローバルストレージテクノロジーズ
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濱口 雄彦
株式会社 日立製作所 研究開発本部 ストレージテクノロジー研究センタ
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大津 孝佳
山梨大学工学部
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大津 孝佳
(株)日立製作所ストレージシステム事業部
-
大津 孝佳
株式会社 日立グローバルストレージテクノロジーズ 技術開発本部
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