電子ビームイオントラップを用いた多価イオンの研究
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概要
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Intensive studies on highly charged ions (HCIs) have been recently performed by using electron beam ion traps (EBITs). General property of HCIs and principle of the ion source are outlined. Details of the Tokyo-EBIT installed at the University of Electro-Communications are described with several experimental results.
- 日本質量分析学会の論文
- 2001-12-01
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