22pRF-6 電子ビームイオントラップによるSn,Xe多価イオンのEUV分光測定(原子・分子,領域1,原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理)

元データ 2007-08-21 社団法人日本物理学会

著者

藤岡 慎介 阪大レーザー研
西村 博明 阪大レーザー研
甲斐 健師 阪大レーザー研
藤岡 慎介 大阪大学レーザーエネルギー学研究センター
西原 功修 阪大レーザー研
田沼 肇 首都大理工
大谷 俊介 電気通信大学レーザー新世代研究センター
甲斐 健師 日本原子力研究開発機構関西光科学研究所
中村 信行 電通大レーザー
菊池 浩行 電通大レーザー
大谷 俊介 電通大レーザー
坂上 裕之 核融合研
大谷 俊介 電通大レーザーセ
坂上 裕之 テキサスa&m大
西原 功修 大阪大学 レーザーエネルギー学研究センター
Schuessler H テキサスa&m大
Shuessler H. テキサス大
大谷 俊介 電通大レーザー研
田沼 肇 首都大・理工・物理
田沼 肇 首都大
藤岡 慎介 阪大レーザー

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