小角散乱の基礎 〜X線・中性子の小角散乱から何がわかるか〜
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
Fundamental aspects of small-angle scattering technique are duly explained from the very basic points for the beginners and newcommers of this useful technique to study the strucuture of“Vernachlasisgten Dimensionen”.
- 日本結晶学会の論文
- 1999-08-30
著者
-
松岡 秀樹
京都大学大学院工学研究科高分子化学専攻
-
Matsuoka Hideki
Department Of Polymer Chemistry Graduate School Of Engineering Kyoto University
-
松岡 秀樹
京都大学大学院工学研究科
関連論文
- 27aYK-12 反射光学系によるJ-PARC試料水平型反射率計の高度化(X線・粒子線(中性子),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 30aRE-6 J-PARC試料水平型反射率計の現状と期待される測定性能(30aRE X線・粒子線(中性子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 30pXC-7 TOF法による熱中性子水平型反射率計ARISAの概要と性能
- 28a-G-9 マイクロスフィアに閉じ込められた脂肪酸の異常な結晶化
- 界面および溶液中における両親媒性高分子の特性解析 (粒子線の高度利用(4))
- シリカコロイド分散液における構造形成--3次元パラクリスタル理論による解析
- X線小角散乱法によるシリカコロイド分散液の"規則"構造に関する研究
- X線・中性子反射率法による高分子単分子膜および高分子電解質ブラシのナノ構造評価
- Resonant Photoemission Study of Molybdenum Bronzes:K_MoO_3,K_MoO_3 and K_Mo_6O_
- シラシクロブタン誘導体の精密重合
- 中性子反射率測定(7)気水界面における高分子ブラシの中性子反射率測定
- 水面高分子電解質ブラシの反射率法によるイメージング
- X線および中性子反射率測定による高分子単分子膜のナノ構造解析
- X線反射率測定の気水界面分子膜への応用
- イオン性高分子溶液における構造形成
- Structure of Bis(iodozincio)methane in THF Solution
- Fabrication of Nano-structure by Diels-Alder Reaction
- カルボシラン両親媒性ポリマーの合成と自己組織化
- 新規両親媒性高分子のミセル形成挙動
- 新規両親媒性高分子の精密合成と集合体形成
- 試料水平型X線反射率測定装置による気水界面高分子組織体のナノ構造解析
- 界面における高分子集合体のナノ構造
- 水面単分子膜のナノ構造がそのまま測れる!--気液界面X線反射率測定の原理と応用
- 両親媒性高分子の合成と物性における新展開
- 高分子微粒子の運動をみる
- 実験室レベルで使用可能な気液界面X線反射率測定装置の開発
- 第63回コロイドおよび界面化学討論会
- 精密合成された両親媒性高分子の特性と新規機能材料への展開
- 界面不活性両親媒性高分子--高分子性・イオン性・両親媒性の調和による特性発現と自己組織化
- シラシクロプロパンのアニオン開環重合
- 4.X線反射率 - 両親媒性高分子の水面上における二次元組織体の"その場"観察 -
- Synthesis and Solution Behavior of the Silicon - Containing Amphiphilic Block Copolymer, Polystyrene - b - Poly (3 - hydroxymethylsilacyclobutane)
- イオン性両親媒性高分子の特性・自己組織化とその制御
- 中性子散乱・反射率法によるイオン性両親媒性高分子会合体の構造とその形成メカニズム
- 中性子反射率
- X線・中性子小角散乱法-高分子ミセルへの応用を例として-
- コロイド, ミセル, 高分子溶液への応用
- 小角散乱の基礎 〜X線・中性子の小角散乱から何がわかるか〜
- イリデッセンス
- ミクロ相分離構造
- コロイド結晶
- 3. 微少量・高精度・極限に迫る 超小角散乱でコロイドをみる
- 界面活性剤会合体系の中性子小角散乱法による解析
- 高分子の構造制御
- タイトル無し