X線・中性子小角散乱法-高分子ミセルへの応用を例として-
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概要
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X線小角散乱 (SAXS) および中性子小角散乱法 (SANS) の概要とミセル粒子構造解析への応用について, 最近の高分子ミセルの測定例を用いて, 解説した。SAXSおよびSANSによれば, ミセルなど数十から数百Åのディメンジョンを持つ粒子の, 大きさ, 形, 表面性状などを評価することができる。さらにモデル計算や中性子散乱におけるコントラスト変化法などを応用することにより, ミセル粒子内のコア-シェル構造など, 内部の密度不均一構造について正確な情報が得られる。具体例を示すことにより, 目的別の解析法などを平易に解説した。
- 社団法人 日本油化学会の論文
- 2000-10-20
著者
-
松岡 秀樹
京都大学大学院工学研究科高分子化学専攻
-
Matsuoka Hideki
Department Of Polymer Chemistry Graduate School Of Engineering Kyoto University
-
松岡 秀樹
京都大学大学院工学研究科
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