X線・中性子反射率法による高分子単分子膜および高分子電解質ブラシのナノ構造評価
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概要
著者
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松岡 秀樹
京都大学大学院工学研究科高分子化学専攻
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Matsuoka Hideki
Department Of Polymer Chemistry Graduate School Of Engineering Kyoto University
-
毛利 恵美子
九州工業大学大学院工学研究院物質工学研究系
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