多層平面コイルを用いた高周波磁気計測-高周波透磁率計測から, 2D電磁雑音マッピング, LSI電流計測まで-
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概要
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- 1998-09-01
著者
-
遠矢 弘和
NEC
-
山口 正洋
東北大通研
-
荒井 賢一
東北大通研
-
増田 則夫
NEC
-
増田 則夫
日本電気株式会社生産技術研究所実装設計テクノロジーグループ
-
遠矢 弘和
日本電気株式会社
-
山口 正洋
東大 大学院医学系研究科
-
渡辺 光春
凌和電子株式会社
-
板垣 篤
凌和電子株式会社
-
安藤 仁司
凌和電子株式会社
-
薮上 信
東北大通研
-
板垣 篤
凌和電子(株)
-
安藤 仁司
凌和電子(株)
-
渡辺 光春
ジョイント・ラボ仙台
-
斉藤 昇
ジョイント・ラボ仙台
-
板垣 喜一
ジョイント・ラボ仙台
-
布田 孝一
ジョイント・ラボ仙台
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