実時間縞画像処理を用いた光学系の適応制御(第3報) -開口合成干渉計の自動化と接続誤差の1除去法-
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 1995-09-01
著者
関連論文
- 2C07 アゾベンゼンの光異性化による螺旋ピッチ変化の機構と時間応答特性(フォトニクス・光デバイス)
- 1PA21 アゾベンゼンの光異性化による螺旋ピッチ制御
- 光によるらせんピッチの制御 (特集 光による液晶の制御)
- ICOだより
- 計測器産業分野
- M-3S-1,2,3,4 号機の光学的追跡について
- 鉛ガラスファイバーファラデー変調器を用いた旋光計
- 超広帯域波長走査干渉計
- スペックル写真自動解析装置の開発
- E-3 超音波ブラッグ・セルを用いた実時間相関計とその応用(光音響応用)
- ホログラフィ干渉の振動物体への適用 : ホログラフィーシンポジウム
- 二波長位相シフトディジタルホログラフィーによる表面形状測定
- デジタルホログラフィによる形状・変形測定
- デジタルホログラフィによる表面形状と変形の測定
- 低コヒーレンスデジタルホログラフィによる形状測定
- 位相シフトデジタルホログラフィによる形状と変形の測定
- ディジタルホログラフィによる乾燥初期の塗装面の観測と解析
- 位相シフトディジタルホログラフィと最近の進展
- ディジタルホログラフィーによる偏光解析 (特集 偏光)
- ディジタルホログラフィーによる偏光測定と応力解析への応用
- ディジタルPLLを用いたしま画像からの実時間形状復元処理(第2報) : 精度の改善と光学面形状測定への適用
- ディジタルPLLを用いたしま画像からの実時間形状復元処理
- 微小工具による光学素子・光学部品のポリシング法の研究 : 平面と球面ミラーの超精密ポリシングと平面開口合成計測法
- 位相シフトデジタルホログラフィーを用いた表面変位計測
- 銀レリーフ型表面プラズモンホログラフィにおける像再生特性
- 光を用いた3次元形状測定技術
- 波長走査型共焦点干渉顕微鏡による屈折率・厚さ同時測定
- 積層構造試料の屈折率・厚さの3次元分布測定
- 低コヒーレンス光源を用いた共焦点干渉顕微鏡による層厚・屈折率の同時測定
- LEDを用いた土壌成分センサー
- レーザースペックルひずみ計と最近の展望(連載講義)
- 半導体レーザーを用いた波長走査型ヘテロダイン干渉法と屈折率・厚さ分離測定への応用 (特集 高分解能広領域の測定を可能にする波長走査干渉計測技術)
- デジタルホログラフィの最近の進展 (特集 新しい画像センシング技術)
- センシングとナノテクのための光工学に関する国際会議ICOSNの開催
- 波長可変レーザーを用いた干渉計における段差測定の高感度化
- 半導体レーザーの光フィードバックを利用した能動型干渉計 (特集 フィードバック干渉計)
- 機上形状計測におけるプローブ取付誤差の測定精度への影響
- 光干渉計測の最近の進歩
- 半導体レーザー変調を用いた能動型位相シフト干渉計
- あなたは右利き?左利き? : Web でたどる左手系マテリアルの世界(2)
- 光応用計測
- 2003年度光科学及び光技術調査委員会のスタートにあたって
- 19.2.光学機器(19.情報・精密機械)(機械工学年鑑)
- 223 LTP(Long Trace Profilometer)による機上形状計測(OS5 電子部品・光学部品の超精密加工)
- LTP(Long Trace Profilometer)による機上形状計測
- 19.2 光学機器(19.情報・精密機械)
- 機上計測用縦型超精密触針式形状測定プローブの開発
- 光形状計測における計算機利用の現状と将来
- スペックル相関を用いた移動量センサー (特集 光・電波による移動体の計測)
- 機上計測用小型触針式形状測定ブロープの特性評価
- 非球面リファレンスを用いた非球面干渉計測
- 機上計測用高精度小型触針式形状測定センサの開発
- 広帯域スペクトル光波干渉計における位相解析とその応用
- 実時間干渉じま解析とその応用(光計測の新しい潮流)
- スペックル相関2次元面内変位センサ
- 21世紀のキーテクノロジーの基礎を築く(精密工学の最前線)
- ホログラフィ干渉の曲げ問題への応用 : ホログラフィーシンポジウム
- 色素ド-プ液晶セルの集束ビ-ムに対する自己偏光変調特性
- 三次元測定機における測定精度改善のための測定値補正方法
- 自律移動ロボットのための境界距離モデルに基づく知識およびセンサ情報の表現
- 三次元形状の評価法
- ホログラフィによる微粒子計測の自動化に関する基礎研究
- 高速A/D変換器をパーソナルコンピュータに接続した計測システム(拡大するパーソナルコンピュータの応用)
- 能動型干渉計を用いた実時間表面形状測定装置における制御パラメ-タ-の最適化
- 易しい?難しい?干渉計測(はじめての精密工学)
- 単一プリズム型導波路センサーによる吸収測定
- 逆符号ティルト縞を用いた撮像系の評価
- フォトン走査型トンネル顕微鏡で観察したエバネセント光干渉縞の偏光効果
- 表面プラズモン共鳴とそのレーザー顕微鏡への応用
- 光学センサ
- 位相シフト法による波長走査干渉縞の処理とその形状測定への応用
- 光と画像の21世紀--デジタルホログラフィー (特集 光と画像が拓く21世紀)
- 有機導体β-(ET)_2I_3表面ステップの安定性と走査トンネル顕微鏡探針による分子除去
- バクテリオロドプシンによる位相共役光学
- レーザー・スペックル相関法による変位・ひずみ測定 (特集 光を利用した応力・ひずみ測定)
- デジタルホログラフィとその応用
- 劉 紀元氏の論文紹介
- 光計測の新しい潮流(光計測の新しい潮流)
- 日本光学会の役割
- 半導体レーザーの戻り光による二光束干渉縞の自己安定化
- 表面プラズモン顕微鏡によるLB膜のモルフォロジー観察
- 2次元スペックル相関法によるひずみ分布の自動解析
- オプトメカトロニクスにおけるフレキシブル光計測(オプトメカトロニクスの基礎技術)
- 波長走査による実時間表面形状計測
- ファイバーバンドルの非球面加工とその応用
- 超精密ELID研削における非球面形状の制御
- 超精密ELID研削における非球面形状の制御 (第3報 : 形状誤差の収束性の評価)
- 色素ド-プ液晶の光誘起複屈折変調
- 実時間縞画像処理を用いた光学系の適応制御(第3報) -開口合成干渉計の自動化と接続誤差の1除去法-
- 超精密ELID研削における非球面形状の制御
- 位相共役光を用いた機能的欠陥検査(最近の高品質光ビーム制御技術)
- 光学的手法による周期構造中の欠陥検出 (欠陥検査・外観検査)
- 白色光再生表面プラズモンホログラフィ
- ICOSN '99 開催報告
- 多次元光波センシング
- 光工学とレーザー
- 光と画像によるひずみ測定
- 光計測の普及と啓蒙を
- 1996年干渉計測に関する国際ワークショップ