半導体レーザーの光フィードバックを利用した能動型干渉計 (特集 フィードバック干渉計)
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
- 2C07 アゾベンゼンの光異性化による螺旋ピッチ変化の機構と時間応答特性(フォトニクス・光デバイス)
- 1PA21 アゾベンゼンの光異性化による螺旋ピッチ制御
- 光によるらせんピッチの制御 (特集 光による液晶の制御)
- 2D15 光による液晶の制御 : らせんピッチの制御
- 3PC02 アゾ基の光異性化による反強誘電性液晶の光スイッチング
- 強誘電性・反強誘電性液晶の光スイッチング
- ICOだより
- 計測器産業分野
- 鉛ガラスファイバーファラデー変調器を用いた旋光計
- 超広帯域波長走査干渉計
- スペックル写真自動解析装置の開発
- E-3 超音波ブラッグ・セルを用いた実時間相関計とその応用(光音響応用)
- ホログラフィ干渉の振動物体への適用 : ホログラフィーシンポジウム
- 二波長位相シフトディジタルホログラフィーによる表面形状測定
- デジタルホログラフィによる形状・変形測定
- デジタルホログラフィによる表面形状と変形の測定
- 位相シフトデジタルホログラフィによる形状と変形の測定
- ディジタルホログラフィによる乾燥初期の塗装面の観測と解析
- 位相シフトディジタルホログラフィと最近の進展
- ディジタルホログラフィーによる偏光解析 (特集 偏光)
- ディジタルホログラフィーによる偏光測定と応力解析への応用
- 微小工具による光学素子・光学部品のポリシング法の研究 : 平面と球面ミラーの超精密ポリシングと平面開口合成計測法
- 位相シフトデジタルホログラフィーを用いた表面変位計測
- 光を用いた3次元形状測定技術
- 波長走査干渉法による表面形状計測 (特集 最近の表面形状計測技術)
- ICOSN'99開催報告
- 波長走査型共焦点干渉顕微鏡による屈折率・厚さ同時測定
- 積層構造試料の屈折率・厚さの3次元分布測定
- 周波数走査型共焦点干渉顕微鏡による厚さ・屈折率の同時測定
- 低コヒーレンス光源を用いた共焦点干渉顕微鏡による層厚・屈折率の同時測定
- 微小球のwhispering galleryモードに対するガウスビームの結合
- 理研における院生の受け入れの現状 (「今,大学院が変わろうとしている : その3」)
- 光波センシング技術研究会
- 26a-ZE-10 バクテリオロドプシンにおける位相・偏光補償作用
- 光波センシング技術研究会
- LEDを用いた土壌成分センサー
- レーザースペックルひずみ計と最近の展望(連載講義)
- 半導体レーザーを用いた波長走査型ヘテロダイン干渉法と屈折率・厚さ分離測定への応用 (特集 高分解能広領域の測定を可能にする波長走査干渉計測技術)
- デジタルホログラフィの最近の進展 (特集 新しい画像センシング技術)
- センシングとナノテクのための光工学に関する国際会議ICOSNの開催
- 波長可変レーザーを用いた干渉計における段差測定の高感度化
- 半導体レーザーの光フィードバックを利用した能動型干渉計 (特集 フィードバック干渉計)
- 機上形状計測におけるプローブ取付誤差の測定精度への影響
- 光干渉計測の最近の進歩
- 機上計測用縦型超精密触針式形状測定プローブの開発
- 光形状計測における計算機利用の現状と将来
- スペックル相関を用いた移動量センサー (特集 光・電波による移動体の計測)
- 機上計測用小型触針式形状測定ブロープの特性評価
- 非球面リファレンスを用いた非球面干渉計測
- 機上計測用高精度小型触針式形状測定センサの開発
- 広帯域スペクトル光波干渉計における位相解析とその応用
- スペックル相関2次元面内変位センサ
- ホログラフィ干渉の曲げ問題への応用 : ホログラフィーシンポジウム
- 色素ド-プ液晶セルの集束ビ-ムに対する自己偏光変調特性
- 単一プリズム型導波路センサーによる吸収測定
- 単一プリズム型導波路センサ-による高感度吸収測定
- バクテリオロドプシンを用いた光学的欠陥検出
- フォトン走査型トンネル顕微鏡で観察したエバネセント光干渉縞の偏光効果
- 表面プラズモン共鳴とそのレーザー顕微鏡への応用
- 位相シフト法による波長走査干渉縞の処理とその形状測定への応用
- 光と画像の21世紀--デジタルホログラフィー (特集 光と画像が拓く21世紀)
- 25p-YR-9 有機導体(BEDT-TTF)_2I_3表面のSTMによる評価
- 有機導体β-(ET)_2I_3表面ステップの安定性と走査トンネル顕微鏡探針による分子除去
- バクテリオロドプシンによる位相共役光学
- レーザー・スペックル相関法による変位・ひずみ測定 (特集 光を利用した応力・ひずみ測定)
- デジタルホログラフィとその応用
- 劉 紀元氏の論文紹介
- 光による表面形状の計測 (特集 非接触表面形状計測)
- デジタルホログラフィとその発展 (特集「最近のホログラフィ」)
- 光計測の新しい潮流(光計測の新しい潮流)
- 日本光学会の役割
- 半導体レーザーの戻り光による二光束干渉縞の自己安定化
- 表面プラズモン顕微鏡によるLB膜のモルフォロジー観察
- 2次元スペックル相関法によるひずみ分布の自動解析
- 波長走査による実時間表面形状計測
- ファイバーバンドルの非球面加工とその応用
- 超精密ELID研削における非球面形状の制御
- 超精密ELID研削における非球面形状の制御 (第3報 : 形状誤差の収束性の評価)
- 実時間縞画像処理を用いた光学系の適応制御(第3報) -開口合成干渉計の自動化と接続誤差の1除去法-
- 超精密ELID研削における非球面形状の制御
- ICOSN '99 開催報告
- 多次元光波センシング
- 光工学とレーザー
- 光と画像によるひずみ測定
- 光計測の普及と啓蒙を
- 1996年干渉計測に関する国際ワークショップ
- 能動型干渉計による定盤外での鏡面測定 (特集 干渉計の最近の動向)