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Japan Fine Ceramics Center | 論文
- 定電位電気化学的手法によるチタン酸バリウム薄膜の作製
- XPS-SIMSによるAu/Si_3N_4界面反応の分析
- 反応性スパッタリング法で作製したAlN薄膜の結晶性 : 残留水蒸気の影響
- 453 多孔体セラミックスの引張り荷重下における損傷挙動のシミュレーション
- 癌治療への応用を指向したレシチン膜 : マイクロカプセルの粒子設計
- Amplitude-division three-electron-wave interference for observing pure phase objects having low spatial frequency
- Direct observation of electrostatic microfields by four-electron-wave interference using two electron biprisms
- High precision phase-shifting electron holography
- 114 Ti-Ni形状記憶合金の変形における微視構造の変化(GS1 ナノ13)
- 2107 TiNi系形状記憶合金中に生成するTi析出相の微視的評価(G04-2 機械材料・材料加工(2),G04 機械材料・材料加工)
- In Situ Transmission Electron Microscopy Observation of Au-Si Interface Reaction
- Specimen preparation for high-resolution transmission electron microscopy using focused ion beam and Ar ion milling
- 「粉体構造制御グループ会」活動報告
- 高密度カーボンナノチューブ膜の機械的特性
- Creation of Highly Oriented Freestanding Carbon Nanotube Film by Sublimating Decomposition of Silicon Carbide Film
- Epitaxial Growth of 3C-SiC on Thin Silicon-on-Insulator Substrate by Chemical Vapor Deposition Using Alternating Gas Supply
- Electric-Field Modulation of Thermopower for the KTaO_3 Field-Effect Transistors
- セラミックスインテグレーションにおける機能と界面の微構造解析
- Electron holographic mapping of two-dimensional doping areas in cross-sectional device specimens prepared by the lift-out technique based on a focused ion beam
- Examination of electrostatic potential distribution across an implanted p-n junction by electron holography