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Imaging Devices Laboratory Nanovision Research Centre Research Institute Of Electronics Shizuoka Uni | 論文
- 高機能センサ
- 静岡大学 電子工学研究所 イメージングデバイス分野
- Low-Noise Readout Circuits with a Response Time Acceleration Technique
- Low-noise readout circuits with a response time acceleration technique (集積回路)
- Noise reduction effects of column-parallel multiple sampling circuits (情報センシング)
- A High-Speed CMOS Image Sensor with Global Electronic Shutter Pixels Using Pinned Diodes
- 複数露光時間信号合成を用いた広ダイナミックレンジイメージセンサ (特集 CMOSイメージングデバイスの潮流)
- 背景光低減構造を持つQVGAサイズTOF距離画像センサ
- 周期的電荷排出動作を用いた Time-of-Flight 距離画像センサの背景光下における距離分解能に関する実験的検証
- TOF3次元レンジファインダの最新動向
- A Range-Shift Technique for TOF Range Image Sensors
- 高速度CMOSイメージセンサのための並列画像圧縮回路の設計(イメージセンシング技術とその応用)
- Design of a Small-Offset 12-Bit CMOS DAC Using Weighted Mean Sample-and-Hold Circuit(Analog Circuit and Device Technologies)
- 改善型12-bitカラム並列サイクリックA/D変換器を集積した広ダイナミックレンジCMOSイメージセンサ(イメージセンシング技術とその応用)
- CMOS Imaging Devices for New Markets of Vision Systems(VLSI Technology toward Frontiers of New Market)
- Simultaneous Compensation of RC Mismatch and Clock Skew in Time-Interleaved S/H Circuits(Analog Circuit and Device Technologies)
- C-12-47 Response time Acceleration in Low-Noise Readout Circuits for High Output Impedance Sensors
- An 80μVrms temporal noise 82dB dynamic range CMOS image sensor with a 13 to 19b variable resolution column-parallel folding integration/cyclic ADC (情報センシング・コンシューマエレクトロニクス)
- Techniques for Digitally Assisted Pipeline A/D Converters
- A Wide Dynamic Range CMOS Image Sensor with Dual Charge Storage and a Multiple Sampling Technique