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日立製作所中央研究所 | 論文
- HTS-SQUIDを用いた直交磁場印加型非破壊検査システムの開発
- 干渉計を用いた位相型X線イメージングの医学応用
- Si注入による端面透明化構造を有する0.98μm帯InGaAs/InGaAsP半導体レーザ
- 指数関数型フレアストライプを有する0.98μm帯InGaAs/InGaAsPレーザの高出力特性
- スポットサイズ拡大機能を有する0.98μm帯InGaAs/InGaAsP歪量子井戸半導体レーザ
- Alフリー0.98μm帯InGaAs/InGaP/GaAs面発光型レーザの室温連続動作
- InGaAsP障壁層を有する0.98μm帯InGaAs/InGaP/GaASレーザの高温高出力特性
- InGaAsP障壁層の導入による帯InGaAs/InGaP/GaAs歪量子井戸レーザの高信頼性動作
- 異常ホール効果測定による複合構造垂直磁気記録媒体磁気特性評価へのアプローチ(媒体および一般)
- 異常ホール効果測定による複合構造垂直磁気記録媒体磁気特性評価へのアプローチ(媒体及び一般)
- 電子線トモグラフィーによる磁気ヘッド磁界計測技術(「磁性に関連したセンシング技術の広がりとその最前線」その2-磁気イメージング-)
- 電子線トモグラフィー装置を用いたSPTヘッドの高周波応答測定
- 電子線トモグラフィー装置を用いたSPTヘッドの高周波応答測定(垂直記録及び一般)
- 投射電子線磁界トモグラフィ装置の開発(2003年度(23回)精密工学会技術賞)
- 三次元磁界測定装置を用いた磁気ヘッド評価(磁気ヘッドおよび磁気記録再生特性)
- 電子線トモグラフィーを用いたヘッド磁場評価
- 三次元磁界測定装置を用いた磁気ヘッド評価
- 磁気力顕微鏡を応用したGMR感度分布評価
- 電子線トモグラフィーによる記録ヘッド磁界の時間応答測定
- 電子線トモグラフィを用いた磁気ディスク装置用高速記録磁気ヘッドの開発