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日本電子株式会社 | 論文
- 26aYK-1 高分解能スピン偏極電子顕微鏡(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 走査型電子顕微鏡による150℃から500℃の温度での電気絶縁体表面の直接観察
- HVEM の超高分解能とその周辺技術
- アラニン線量計を用いた北海道士幌町農業協同組合士幌アイソトープ照射センターの線量分布測定
- C-13 NMRによる高圧法低密度ポリエチレンの分岐種の帰属と定量分析
- C-13 NMRによる低密度ポリエチレンの分岐種の帰属
- Laue caseのロッキングカーブに見られる位相変化の観測
- 31p-F-5 メタステーブル電子放射顕微鏡による固体表面の観測 : SiO_2/Si(100)のエネルギー選別像
- 収差補正200kV TEM・STEM
- 観察装置としての集束イオンビームの応用
- 走査電子顕微鏡(SEM)
- 29a-ZS-5 メタステーブル電子放射顕微鏡による2次元拡散過程の観測 : グラファイト上のCIAIフタロシアニン
- 電子プローブX線マイクロアナライザーによる簡易・迅速・局所X線吸収スペクトル測定
- 低真空走査型電子顕微鏡を利用したプランクトン観察のための新しい凍結乾燥法とその応用
- HAADF-STEMによるSi中の不純物As原子の2次元分布の測定
- 27aYA-5 HAADF-STEMによるイオン打ち込みしたSi中のAs原子の同定
- 皮膚石灰沈着症の石灰化物質の解析
- 正10角形準結晶の近似結晶のHAADF観察
- 正10角形準結晶のHAADF観察
- 収差補正の発展--Delta型新球面収差補正装置の開発 (分析技術の進展--ハードの最前線)