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成蹊大学工学部物理情報工学科 | 論文
- 講演大会特集号に寄せて
- XPSに用いられる走査型X線源のビーム形状とエネルギー分布シミュレーション
- X線光電子分光法用走査型X線源の球面収差とビーム形状シミュレーション
- TOF-SIMSを用いたポリマーの化学構造解析
- SIMSによる最近の分析と顕微法
- ガラスの表面特性とキャラクタリゼーション (特集 分析技術のガラスへの応用)
- 極表層におけるホウ素のSIMS定量分析
- TOF-SIMSによりポリメタクリル酸メチル(PMMA)表面から得られた二次イオン強度の解析
- X線光電子分光法の深さ方向分析から分かるSi基板上In島状膜の構造およびその膜厚変化
- 多孔質シリコンのPLスペクトルの経時変化と表面修飾の効果
- スパッタリングプラズマ中の銅原子密度の位置分解発光分光による測定およびそのターゲット-基板間距離による変化
- Cuスパッタ製膜における成膜速度のターゲット-基板間距離依存性
- 中高圧力下(2-20Pa)のスパッタリングにおける粒子輸送過程
- 任意の屈折率を持つ層からなる光学多層膜フィルタの最適設計
- スパッタ銅膜の表面ラフネス成長の原子間力顕微鏡による観察
- 銅-インジウム重ね蒸着膜における合金化進行過程のX線光電子分光法による観察
- スパッタ法によって作製した硼化ランタン薄膜の組成と物性
- TOF-SIMS, Q-SIMS, XPSによるイオン照射に伴う有機材料表面の状態変化の解析
- オージェ電子分光法およびファクターアナリシスを用いたCeの化学状態別定量分析
- イオン照射を受けたPb-Sn, Pb-Sn-Ag合金表面のAESおよびSIMSによる解析