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成蹊大学工学部物理情報工学科 | 論文

• 薄膜の付着力測定
• TOF-SIMS法による固体表面分析(1)--基本技術と特徴的な測定例
• HFウエットエッチングを併用したSiO_2薄膜中NaのSIMS分析
• TOF-SIMS による有機物分析
• 14-1 高精細PDPセル内のXe励起原子分布のガス圧依存性(第14部門 情報ディスプレイII)

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