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名大・大学院 | 論文
- TEMによるシリカ・ジルコニアガス分離膜の微構造観察
- 半導体デバイスにおけるSn-Ag-CuおよびSn-Ag-Cu-Biはんだと無電解Ni-Pとの接合界面のTEM観察
- 半導体デバイスにおけるSn-Agはんだと無電解Ni-Pとの接合界面のTEM観察
- 透過型電子顕微鏡を用いたガス雰囲気下高温その場観察
- 影像歪法による試料中の電場・磁場の観察
- 液晶ディスプレイの故障解析へのFIB/TEMの応用
- 電子線ホログラフィーによる相補型 MOS(Complementary MOS) デバイス断面のドーパント分布解析
- 電子線ホログラフィーと集束イオンビームを用いた電界効果トランジスタ(MOSFET)断面の2次元電位分布解析
- 18pTH-6 電子線ホログラフィによるMOSFET断面の電位分布解析
- FIB照射により発生するGa析出物の電子顕微鏡観察
- 生きている半導体デバイスを観察するためのFIB加工技術の開発
- Sn合金の融解・凝固過程のその場TEM観察
- SrTiO_3の室温変形転位組織の透過電子顕微鏡観察
- SPMによる引掻き試験でシリコン単結晶に生じた微構造変化のTEM観察
- 電子線ホログラフィーによる p-n 接合の観察
- シリコン単結晶のマイクロ磨耗
- シリコン単結晶のマイクロ摩耗特性と摩耗組織
- プラズモンロス像を用いた高温における動的元素マッピング
- 透過型電子顕微鏡による材料の組織およびプロセス評価における最近の進歩
- 透過型電子顕微鏡による表面・界面の解析