樋口 和英 | 東京大学
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概要
関連著者
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竹内 健
(株)東芝 マイクロエレクトロニクス技術研究所
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樋口 和英
東京大学先端科学技術研究センター
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竹内 健
東京大学:(現)中央大学
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上口 光
中央大学
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宮地 幸祐
中央大学
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竹内 健
中央大学
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樋口 和英
東京大学
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藤井 裕大
東京大学
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孫 超
東京大学
著作論文
- MLC相変化メモリとNANDフラッシュメモリを用いた三次元ハイブリッドSSDのための正負温度係数を有する読み出し参照源(メモリ(DRAM,SRAM,フラッシュ,新規メモリ)技術)
- SCM及びMLC NANDフラッシュメモリを用いたハイブリッドSSDと断片化防止アルゴリズムによる性能向上(メモリ(DRAM,SRAM,フラッシュ,新規メモリ)技術)