Kang Hyun-Sik | Dept. of EECS, KAIST

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概要

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• 同名の論文著者
• Dept. of EECS, KAISTの論文著者

関連著者

• Kang Hyun

  Dept. Of Eecs Kaist

• Choi Yang

  Dept. Of Eecs Korea Advanced Institute Of Science And Technology

• Choi Yang-kyu

  Dept. Of Eecs Korea Advanced Institute Of Science And Technology

• Choi Yang

  Dept. Of Eecs Kaist

• Ryu Seong

  Dept. of EECS, Korea Advanced Institute of Science and Technology

• Ryu Seong

  Dept. Of Eecs Kaist

• Ryu Seong-Wan

  Dept. of EECS, KAIST

• Kang Hyun-Sik

  Dept. of EECS, KAIST

著作論文

• A Comprehensive Study of Punchthrough Characteristics in Multiple-Gate MOSFETs--The Trend of Punchthrough Voltages in Various Gate Shapes of SOI MOSFETs (先端デバイスの基礎と応用に関するアジアワークショップ(AWAD2005))
• A Comprehensive Study of Punchthrough Characteristics in Multiple-Gate MOSFETs--The Trend of Punchthrough Voltages in Various Gate Shapes of SOI MOSFETs (先端デバイスの基礎と応用に関するアジアワークショップ(AWAD2005))

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