石田 忠 | 東京大学生産技術研究所

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概要

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関連著者

• 藤田 博之

  東京大学生産技術研究所

• 石田 忠

  東京大学生産技術研究所

• 石田 忠

  東京大学生産技術研究所マイクロメカトロニクス国際研究センター

• 藤田 博之

  東京大学生産技術研究所マイクロメカトロニクス国際研究センター

• 角嶋 邦之

  東京大学生産技術研究所

• 角嶋 邦之

  東京大学生産技術研究所 藤田博之研究室

• 佐藤 隆昭

  東京大学生産技術研究所

• 藤田 博之

  東大生研

• 小林 大

  東京大学生産技術研究所　マイクロナノメカトロニクス国際研究センター

• JALABERT Laurent

  東京大学生産技術研究所

• VOLZ Sebastian

  東京大学生産技術研究所

• BOUSCAYROL Laurent

  LAAS-CNRS ; Universite de Toulouse

• 佐藤 隆昭

  東京大学生産技術研究所マイクロメカトロニクス国際研究センター

• 小林 大

  科学技術振興事業団

• コラール ドミニク

  東京大学生産技術研究所マイクロメカトロニクス国際研究センター

• 久米村 百子

  東京大学生産技術研究所マイクロメカトロニクス国際研究センター

• 仲島 祐樹

  東京大学

• 仲島 祐樹

  東京大学生産研

• SARAJLIC Edin

  トウェンテ大学MESA+研究所

• 宇佐美 雅貴

  東京大学大学院工学系研究科

• ジャラベール ロラン

  東京大学生産技術研究所マイクロナノメカトロニクス国際研究センター

• 久米村 百子

  東京大学生産技術研究所マイクロナノメカトロニクス国際研究センター

• コラール ドミニク

  東京大学生産技術研究所マイクロナノメカトロニクス国際研究センター

• 藤田 博之

  東京大学生産技術研究所マイクロナノメカトロニクス国際研究センター

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著作論文

• MEMSデバイスによるシリコンナノワイヤ熱伝導のTEM内測定
• 金対シリコン異種MEMS針端の接触による金原子移動の実時間観察
• MEMS対向探針による金ナノコンタクト接近-衝突-引張-破断実験のHRTEM観察と電流測定
• ナノギャップを有する対向針状電極のTEM内の駆動とトンネル電流測定への応用
• シリコンと金のナノスケール接触界面のリアルタイムTEM観察
• Four-Terminal Electrical Measurement of a DNA Molecular Bundle Captured by MEMS Tweezers
• MEMS対向針を用いたナノスケール接触・分離試験のTEMその場観察

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