金川 信康 | 株式会社日立製作所日立研究所
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概要
関連著者
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金川 信康
株式会社日立製作所日立研究所
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金川 信康
(株)日立製作所日立研究所
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金川 信康
株式会社日立製作所
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金川 信康
日立
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金川 信康
(株)日立製作所
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佐藤 美道
日立製作所
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金川 信康
日立製作所
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佐藤 美道
(株)日立製作所日立研究所
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大辻 信也
(株)日立製作所日立研究所
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鈴木 昭二
(株)日立製作所日立研究所
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田中 俊之
(株)日立製作所宇宙技術推進本部
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大辻 信也
株式会社日立製作所日立研究所
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山口 伸一朗
(株)日立ビルシステム研究開発センタ
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山浦 富雄
東京工科大学
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周東 晃四郎
文部省宇宙科学研究所
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嶋 庸介
(株)日立製作所水戸交通システム本部
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山口 伸一朗
日立
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福丸 広昭
日立製作所大みか工場
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宮尾 健
日立製作所大みか工場
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小林 彬
大学評価・学位授与機構
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山田 隆弘
宇宙科学研究所
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山口 伸一朗
日立製作所
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金川 信康
日立 日立研
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横川 慎二
ルネサスエレクトロニクス株式会社
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上杉 邦憲
宇宙科学研究所
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高橋 聖
日本大学
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高橋 聖
日本大学理工学部電子情報工学科
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能見 誠
(株)日立製作所 水戸工場
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中田 憲一
(株)日立製作所 水戸工場
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佐藤 寛
(株)日立製作所日立研究所
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加藤 肇彦
(株)日立製作所宇宙技術推進本部
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高野 忠
文部省宇宙科学研究所
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上杉 邦憲
文部省宇宙科学研究所
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山田 隆弘
文部省宇宙科学研究所
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井原 廣
(株)日立メディコ技術研究所
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宮崎 直人
日立
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嶋 庸介
日立
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山口 伸一朗
日立製作所日立研究所
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高橋 聖
日本大
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村松 彰二
(株)日立製作所日立研究所
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山口 伸一朗
(株)日立ビルシステム
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井原 廣一
(株)日立メディコ
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宮崎 直人
日立製作所
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横川 慎二
電気通信大学
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村松 彰二
(株)日立製作所日立研究所情報制御第二研究部
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上杉 邦憲
宇宙科学研究所宇宙推進研究系
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坂野 順一
(株)日立製作所 日立研究所
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村松 菊男
(株)ルネサステクノロジマイコン統括本部自動車事業部
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小林 裕
(株)日立製作所日立研究所情報制御第三研究部
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上杉 国憲
宇宙科研
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宮尾 健
日立
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福丸 広昭
日立
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高橋 聖
日本大学大学院理工学研究科
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坂野 順一
(株)日立製作所日立研究所インバータイノベーションセンタ
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横川 慎二
職業能力開発総合大学校
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岩田 浩司
(公財)鉄道総合技術研究所
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KANEKAWA Nobuyasu
Hitachi, Research Laboratory, Hitachi, Ltd.
著作論文
- 電子装置の高信頼技術この10年 : 21世紀の最初の10年を振り返る
- DSN2008報告 : The 38th Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks(ネットワーク環境でのディペンダビリティ)
- PD-3-1 フォールトモードの変遷と技術的対応
- フォールトトレラントコンピュータにおける誤り検出カバレジに着目した高信頼化アプローチ
- 時間ダイバーシティによる誤り相関の低減効果
- 均衡した優雅な縮退のための動的冗長資源管理方式
- 配線ネット固有シグナチャによるセルフチェッキング比較器の一構成方法
- フェイルセーフ基本演算装置
- データ多様化による誤差許容型フォールトトレランス方式
- Wavelet時間周波数論理によるセルフチェッキング回路の一構成法
- 衛星搭載用コンピュータの高信頼化とその実証
- A-199 データ多様化による誤差許容型フォールトトレランス方式(A-9. 信頼性,一般講演)
- モジュール間インタフェースの冗長化に着目したNバージョンプログラムの信頼性検討
- 「ひてん」OBC のフォールトトレランス実験
- 最適クロックダイバーシチによる障害検出・回復カバレッジの向上
- 高信頼コントローラのリトライによる障害回復方式とその評価
- フォールトトレラントサーバFT6100の高信頼化技術
- 伝搬時間差を利用した信号場による位置・姿勢計測
- 工場内移動体の位置計測--信号の伝搬時間差を利用した信号場構成の一考察 (無人化工場における計測システム)
- 宇宙用システム--宇宙機搭載用コンピュ-タ--汎用LSIによるシステム構成 (フォ-ルトトレラントシステム) -- (フォ-ルトトレラントシステム)
- 新しい多数決方式によるフォ-ルトトレラントコンピュ-タシステム (新しいフォ-ルトトレランス技術論文小特集)
- 「信頼性ハンドブック」出版10周年 : 高信頼計算機システムの動向(「信頼性・保全性・安全性の事例:電気・電子装置(計算機装置)編」〜信頼性ハンドブック出版から10年を経て〜)
- professional report ディペンダブル(高信頼化)システム技術への日立の取り組み
- 車載半導体この10年
- 基板内フォールトマスキング方式によるフォールトトレラントコンピュータの高速化と透過性
- Potential of Fault-Detection Coverage by means of On-Chip Redundancy - IEC61508: Are There Royal Roads to SIL 4?
- 日本信頼性学会第21回春季信頼性シンポジウム報告
- 10.1 故障原因の変遷と将来の課題(=挑戦)(第10章:将来の課題,ディペンダブルVLSIシステム)
- 「ディペンダビリティ」と「信頼性」