武内 一夫 | 独立行政法人 理化学研究所

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概要

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関連著者

• 武内 一夫

  独立行政法人 理化学研究所

• 岡田 芳樹

  理化学研究所

• 岡田 芳樹

  理化学研究所"理研ベンチャー"ワイコフ科学(株)

• 武内 一夫

  理研

• 武内 一夫

  理化学研究所分離工学研究室

• 武内 一夫

  理化学研究所

• 尾上 順

  理研

• 折井 孝彰

  独立行政法人 理化学研究所

• 薮元 淳輔

  ワイコフ科学株式会社 理研内連絡事務所

• 岡田 芳樹

  理研

• 藪元 淳輔

  ワイコフ科学株式会社 理研内連絡事務所

• 青野 正和

  理研

• 近藤 保

  豊田工大

• 桑原 祐司

  理研

• 市橋 正彦

  豊田工大

• 中村 淳

  理研

• 折井 孝彰

  理研

• 大山 俊之

  理研

• 中山 知信

  理研

• 今中 雅士

  独立行政法人 理化学研究所

• 中辻 寛

  理研

• 黒田 和男

  東大生研

• 川添 良幸

  東北大金研

• 大野 かおる

  東北大金研

• 岡村 秀樹

  National Research Council Of Canada

• 志賀 圭一郎

  東北大金研

• 丸山 豊

  名工研

• 石井 忠浩

  東京理大

• 石井 忠浩

  東理大理

• 谷村 志乃夫

  理研

• 丸山 豊

  名古屋工業技術研究所

• 大野 かおる

  横国大(工)

• 加藤 修司

  理化学研究所

• 里岡 栄

  理化学研究所

• 荒谷 美智

  理化学研究所

• 石井 忠浩

  東京理大 理

• 青野 正和

  理研 青野原子制御表面プロジェクト

• 藪元 淳輔

  理化学研究所"理研ベンチャー"ワイコフ科学(株)

• 山口 悟

  理化学研究所

• 中井 浩巳

  早稲田大学理工学部

• 市川 尚志

  早稲田大学理工学部

• 折井 孝彰

  理化学研究所

• 武内 一夫

  理科学研究所

• 岡田 芳樹

  理科学研究所

• 平山 幸一

  東理大理

• 中井 浩巳

  早稲田大学理工学術院

• 中井 浩巳

  早稲田大学先進理工学部化学・生命化学科

• 青野 正和

  大阪大学大学院工学研究科精密科学専攻

• 佐藤 正之

  群馬大学

• 原 寿樹

  セイコーエプソン

• 田中 啓文

  自然科学研究機構・分子科学研究所・分子スケールナノサイエンスセンター

• 志賀 圭一郎

  Institute For Materials Research Tohoku University

• 薛 光洙

  理化学研究所

• 田中 啓文

  理研

• 薮元 淳輔

  "理研ベンチャー"ワイコフ科学(株)

• 薮元 淳輔

  理研ベンチャー ・ ワイコフ興業 (株)

• 中山 知信

  理研

• 尾上 順

  理化学研究所

• 原 寿樹

  理化学研究所

• 竹内 一夫

  理研

• 薛 光洙

  理化学研究所レーザー反応工学研究室

• 飯村 康紘

  理化学研究所

• 中井 浩巳

  早稲田大学大学院先進理工学研究科化学・生命化学専攻

• 中井 浩巳

  早稲田大学 先進理工学部 化学・生命化学科，〒169-8555 東京都新宿区大久保3-4-1

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著作論文

• α線計測によるウラン同位体比測定のためのUF_5微粒子のレーザー生成
• 大気環境におけるナノ粒子の計測(燃焼と環境の計測技術)
• 分子とクラスター間の衝突断面積の計算
• アンモニアクラスターイオンの安定性と核生成速度との関係
• クラスター・ナノ粒子の科学とサイズ選別技術
• 27p-S-5 アンモニアクラスターイオンにおけるイオン核形成
• 超音速ラバルノズル内でのSF6クラスタ-の成長ダイナミクス
• 赤外レ-ザ-によるシリコン同位体分離
• 赤外レ-ザ-によるジルコニウム同位体材料の合成 (化工手法による合成技術)
• 化学工学におけるレ-ザ利用 (工業的レ-ザ利用法--異分野の技術を使いこなす)
• レ-ザ-同位体分離の最近の進展
• CWおよびパルスNd : YAGレーザーの同時照射による高次フラーレンの合成
• マクロとミクロをむすびつけるために--フラーレンポリマー形成のナノスコピック観察 (原子スケール評価(下))
• 解説 フラーレンポリマーの構造・性質・応用--新しいパイ電子共役系炭素物質相 (特集 フラーレンファミリー材料と最近の話題)
• 第3章 ナノ粒子の計測と分析 : 3. 6 静電気力を用いたナノ粒子の測定・分析技術
• DMAを用いたナノ粒子の計測
• ワイコフ興業 DMA(微分型静電分級器)を用いたナノ粒子計測とサイズ選別--理研ベンチャーの認定を受けた企業 (特集 エレクトロニクスベンチャー企業への期待) -- (ベンチャー企業編)
• 産業とエアロゾル 1. ナノ物質研究と材料への応用
• 超短パルス光によるフォトリフラクティブ格子の形成
• 24pY-10 Si(111)√×√
• 31a-Q-5 C-単層膜中における光重合C-二量体および三量体の非対称電子密度分布 : STM/STSによる検討
• フラ-レン光重合ポリマ-のナノ構造 (特集 先進技術と材料)
• 26p-YM-3 C_単分子層膜におけるC_-C_重合反応 : STMによる実空間観察
• 27p-M-14 In situ高分解能FT-IR分光によるC_薄膜の電子ビーム照射に関する研究
• 5p-H-10 C_への水分子吸着過程の第一原理分子動力学計算
• レ-ザ-気相反応によるSnO2,VO2およびV2O3微粒子の合成
• 29p-XC-5 アンモニアクラスターイオンにおけるイオン核形成II

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