古宇田 光 | 日本電気(株)材料開発試作センター
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概要
関連著者
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古宇田 光
日本電気(株)材料開発試作センター
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桑野 泰彦
日本電気(株)材料開発センター
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古宇田 光
NEC機能材料研究所
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古宇田 光
日本電気株式会社ナノエレクトロニクス研究所
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高橋 久弥
日本電気株式会社ナノエレクトロニクス研究所
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高橋 久弥
日本電気(株)ナノエレクトロニクス研究所
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小林 靖之
大阪市立工業研究所
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吉原 佐知雄
宇都宮大学大学院工学研究科エネルギー環境化学専攻
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石沢 伸夫
東京工業大学セラミックス研究所
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石沢 伸夫
名古屋工業大学セラミックス基盤工学研究センター
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丸茂 文幸
東京工業大学工業材料研究所
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丸茂 文幸
日本大学文理学部
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須田 勝美
東京工業大学工業材料研究所
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桑野 泰彦
日本電気(株)材料開発試作センター
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吉原 佐知雄
宇都宮大学 大学院工学研究科
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吉原 佐知雄
宇都宮大学
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藤原 裕
大阪市立工業研究所
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北城 栄
日本電気
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吉原 佐知雄
宇都宮大 大学院工学研究科
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石澤 伸夫
東工大応セラ研
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高橋 久弥
日本電気株式会社
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KOBAYASHI Yasuyuki
Osaka Municipal Technical Research Institute
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丸茂 文幸
東京工業大学
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石田 智隆
日本電気
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吉川 実
日本電気
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吉原 佐知雄
宇都宮大学大学院
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古宇田 光
日本電気 (株) 材料開発センター
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石沢 伸夫
名古屋工大 セラミックス基盤工学研究セ
著作論文
- β-BaB_2O_4単結晶の相転移における構造変化 : 評価II
- 無電解銅めっき用Agナノ粒子触媒の高分散吸着と触媒活性
- 1921 多チャンネル光インターフェースが高密度実装されたLSI基板の液冷モジュール(J16-3 電子情報機器,電子デバイスの熱制御と強度・信頼性評価(3),J16 電子情報機器,電子デバイスの熱制御と強度・信頼性評価)
- BaB_2O_4 組成過冷却融液の特異性と固化晶出相(「融液成長における不安定性」)
- CZ-BBO結晶成長および素子化技術の進展
- 29aA4 種結晶を用いたβ-BaB2O_4の引上育成(融液成長III)
- 融液構造を考慮したβ-BaB_2O_4単結晶の直接引上育成(バルク成長)