丸田 昌直 | 三菱電機(株)ULSI技術開発センター

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概要

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• 三菱電機(株)ULSI技術開発センターの論文著者

関連著者

• 日高 秀人

  株式会社ルネサステクノロジ

• 新納 充貴

  (株)ルネサステクノロジ

• 丸田 昌直

  三菱電機(株)ULSI技術開発センター

• 大石 司

  株式会社ルネサステクノロジ

• 大谷 順

  株式会社ルネサステクノロジ

• 大石 司

  三菱電機株式会社ULSI技術開発センタ

• 日高 秀人

  三菱電機株式会社 ULSI開発研究所

• 冨嶋 茂樹

  三菱電機(株)ULSI開発研究所

• 谷崎 弘晃

  株式会社ルネサスデザイン

• 丸田 昌直

  三菱電機株式会社ULSI技術開発センター

• 大谷 順

  三菱電機株式会社ULSI技術開発センター

• 河越 知也

  三菱電機株式会社ULSI技術開発センター

• 新納 充貴

  三菱電機株式会社ULSI技術開発センター

• 浜田 光洋

  三菱電機株式会社半導体生産・技術統括部

• 谷崎 弘晃

  三菱電機エンジニアリング(株)ULSI技術開発センター

• 新納 充貴

  三菱電機(株)ULSI技術開発センター

• 日高 秀人

  三菱電機(株)ULSI技術開発センター

• 浜田 光洋

  三菱電機株式会社 半導体生産・技術統括部

• 冨嶋 茂樹

  三菱電機(株)ulsi技術開発センター

• 河越 知也

  三菱電機株式会社 Ulsi技術開発センター

• 辻 高晴

  (株)ルネサステクノロジ

• 柴山 晃徳

  松下電器産業(株)半導体社開発本部半導体先行開発センター

• 柴山 晃徳

  松下電器産業株式会社

• 辻 高晴

  株式会社ルネサステクノロジ

• 辻 高晴

  三菱電機株式会社ULSI技術開発センタ

• 加藤 宏

  三菱電機(株)ulsi技術開発センター

• 菊川 博仁

  松下電器産業半導体研究センター

• 高橋 和也

  松下電器産業(株)半導体社開発本部

• 石川 正敏

  (株)ルネサステクノロジ

• 辻 高晴

  三菱電機(株)ULSI技術開発センター

• 川崎 利昭

  松下電器産業(株)半導体社開発本部

• 坂元 正二

  松下電器産業(株)半導体社開発本部

• 福島 義文

  松下電器産業(株)半導体社開発本部

• 石川 正敏

  三菱電機(株)ULSI技術開発センター

• 安部 渉

  松下電器産業(株)半導体社開発本部

• 内木場 俊貴

  松下電器産業(株)半導体社開発本部

• 井口 敏裕

  松下電器産業(株)半導体社開発本部

• 瀬能 学

  松下電器産業(株)半導体社開発本部

• 丸田 正直

  三菱電機(株)ULSI技術開発センター

• 大石 司

  三菱電機(株)ULSI技術開発センター

• 井口 敏祐

  松下電器産業(株)半導体社開発本部

• 菊川 博仁

  松下電器産業(株)半導体社開発本部

• 加藤 宏

  三菱電機(株)

• 谷崎 弘晃

  三菱電機エンジニアリング(株)電子デバイス事業所

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著作論文

• 複数メモリコア共有型メモリリペア解析回路の開発(:「LSIシステムの実装・モジュール化, テスト技術, 一般)
• 複数メモリコア共有型メモリリペア解析回路の開発(:「LSIシステムの実装・モジュール化, テスト技術, 一般)
• eDRAM 対応 包括的・リアルタイムリペア解析回路(CRESTA)の開発
• 高効率冗長方式、システムLSI向けテスト容易化機能搭載の0.13μm 32M/64Mビット混載DRAMコア
• SIP対応駆動能力可変型出力バッファによる高周波ウェハテスト
• SIP対応駆動能力可変型出力バッファによる高周波ウェハテスト

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