峯岸 一茂 | NTTエレクトロニクステクノロジー

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概要

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• 同名の論文著者
• NTTエレクトロニクステクノロジーの論文著者

関連著者

• 町田 克之

  Nttシステムエレクトロニクス研究所

• 町田 克之

  NTT LSI研究所

• 生津 英夫

  日本電信電話株式会社 NTT物性科学基礎研究所

• 高橋 庸夫

  NTT LSI研究所

• 下山 展弘

  NTT LSI研究所

• 生津 英夫

  NTT LSI研究所

• 峯岸 一茂

  NTTエレクトロニクステクノロジー

• 高橋 庸夫

  Ntt基礎研

• 生津 英夫

  Ntt 物性科学基礎研

著作論文

• 層間絶縁膜がMOSFETの信頼性に与える影響 : ホットキャリア耐性と層間絶縁膜との関係

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