朝山 匡一郎 | 株式会社ルネサステクノロジ

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概要

• 同名の論文著者
• 株式会社ルネサステクノロジの論文著者

関連著者

• 朝山 匡一郎

  株式会社ルネサステクノロジ

• 朝山 匡一郎

  (株)ルネサステクノロジ 解析技術開発部

• 荒川 史子

  株式会社ルネサステクノロジ

• 寺田 尚平

  株式会社日立製作所日立研究所

• 矢野 史子

  (株)ルネサステクノロジ 解析技術開発部

• 水野 貴之

  株式会社ルネサステクノロジ

• 矢野 史子

  株式会社ルネサステクノロジ

• 柳田 博史

  株式会社ルネサステクノロジ

• 小川 吉文

  株式会社ルネサステクノロジ

• 加藤 好美

  株式会社ルネサステクノロジ

• 森 博太郎

  大阪大学超高圧電子顕微鏡センター

• 森 博太郎

  阪大電顕セ

• 森 博太郎

  阪大UHVEM

• 朝山 匡一郎

  (株)日立製作所 半導体グループ

• 森 博太郎

  大阪大学 超高圧電子顕微鏡センター

• 鷹岡 昭夫

  大阪大学超高圧電顕センター

• 鷹岡 昭夫

  大阪大学超高圧電子顕微鏡センター

• 加藤 好美

  (株)日立製作所半導体グループ

• 森 博太郎

  大阪大学超高圧電子顕微鏡セソター

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著作論文

• ナノプローバとTEMを用いた不良解析手法の開発(LSIシステムの実装・モジュール化技術及びテスト技術,一般)
• ナノプローバとTEMを用いた不良解析手法の開発(LSIシステムの実装・モジュール化技術及びテスト技術,一般)
• 静電破壊ビアホールの3D観察
• 化合物半導体の結晶基板形成プロセスにおける異常成長核の観察
• 半導体デバイスのコンタクト底部における界面状態解析
• エネルギーフィルタTEMによる半導体デバイスの観察

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