雨海 正純 | 日本ti(株)筑波テクノロジセンター
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概要
関連著者
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雨海 正純
日本ti(株)筑波テクノロジセンター
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佐野 裕幸
日本ti(株)筑波テクノロジセンター
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井上 裕嗣
東京工業大学大学院理工学研究科
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岸本 喜久雄
東京工業大学大学院理工学研究科機械物理工学専攻
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井上 裕嗣
東京工業大学
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大宮 正毅
慶大
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大宮 正毅
東京工業大学
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雨海 正純
日本TI
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岸本 喜久雄
東京工業大学
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福永 悦史
東京工業大学院
著作論文
- 電携帯機器の落下衝撃によるはんだ接合の信頼性(チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価,LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般)
- 電携帯機器の落下衝撃によるはんだ接合の信頼性(チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価,LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般)
- 415 マルチステージピール試験法による界面はく離強度評価