佐野 裕幸 | 日本ti(株)筑波テクノロジセンター

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関連著者

• 佐野 裕幸

  日本ti(株)筑波テクノロジセンター

• 雨海 正純

  日本ti(株)筑波テクノロジセンター

著作論文

• 電携帯機器の落下衝撃によるはんだ接合の信頼性(チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価,LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般)
• 電携帯機器の落下衝撃によるはんだ接合の信頼性(チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価,LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般)

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