矢口 富雄 | 日立製作所電子デバイス事業部
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概要
関連著者
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山本 恵彦
独立行政法人産業技術総合研究所 中央第2エレクトロニクス研究部門
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山本 恵彦
筑波大学物理工学系
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矢口 富雄
日立製作所電子デバイス事業部
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佐々木 進
(株)日立製作所電子デバイス事業部
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渡部 勇人
日立
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田口 貞憲
(株)日立製作所電子デバイス事業部
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山本 恵彦
日立中研
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佐々木 進
日立
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小金沢 信之
(株)日立製作所電子管事業部
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山本 恵彦
日立中央研究所
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森 尚子
日立製作所電子デバイス事業部
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田沼 肇
日立中研
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小澤 亮
筑波大学物理工学系
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伊藤 順司
電子技術研究所
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山本 恵彦
(株)日立製作所基礎研究所
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伊藤 順司
産業技術総合研究所
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会田 敏之
日立協和エンジニアリング(株)
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田口 貞憲
日立
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渡部 勇人
(株)日立製作所中央研究所
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矢口 富雄
(株)日立製作所中央研究所
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鈴木 豊
筑波大学物理工学系
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山本 恵彦
筑波大学・物理工学系
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小金沢 信之
(株)日立製作所
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伊藤 順司
電子技術総合研究所プロセス基礎研究室
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水沼 正文
筑波大学物理工学系
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河崎 鋼慈
筑波大学物理工学系
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会田 敏之
(株)日立製作所中央研究所
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田沼 肇
(株)日立製作所中央研究所
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小金沢 信之
日立
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山本 恵彦
日立製作所中央研究所
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渡部 勇人
日立製作所中央研究所
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佐々木 進
日立製作所中央研究所
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田口 貞憲
日立製作所茂原工場
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尾関 幸太
筑波大学物理工学系
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伊藤 順司
工業技術院電子総合研究所
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伊藤 順司
電子技術総合研究所
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会田 敏之
日立 中研
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会田 敏之
日立
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会田 敏之
(株)日立製作所 中央研究所
著作論文
- 分子線緩和分析による表面滞在時間計測における系統誤差
- 3)(W-Sc_2W_3O_)被覆型含浸型カソードの電子放出分布に関する検討(〔情報入力研究会情報ディスプレイ研究会コンシューマエレクトロニクス研究会〕合同)
- (W-Sc_2W_3O_)被覆型含浸形カソードの電子放出分布に関する検討
- 2)低温動作が可能な含浸型カソード(画像表示研究会)
- 4)高電流密度動作カソードの開発と高精細テレビへの適用の検討(〔テレビジョン方式・回路研究会 テレビジョン電子装置研究会〕合同)
- 低温動作が可能な含浸形カソード
- 高電流密度動作カソードの開発と高精細テレビへの適用の検討 : 方式・回路 : 電子装置
- 走査型マスクウェル応力顕微鏡によるFe-42Ni合金表面のミクロ仕事関数分布計測
- 表面粗さの評価/パワースペクトル密度と傾きヒストグラム