渡部 司 | (独)産業技術総合研究所計測標準研究部門

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• 渡部 司

  (独)産業技術総合研究所計測標準研究部門

• 東 康史

  産業技術総合研究所

• 藤本 俊幸

  (独)産業技術総合研究所計測標準研究部門

• 藤本 俊幸

  産総研 計測標準部門

• 東 康史

  (独)産業技術総合研究所計測標準研究部門

• 山岸 秀一

  (独)産業技術総合研究所計測標準研究部門

• 高辻 利之

  (独)産業技術総合研究所計測標準研究部門

• 渡部 司

  産業技術総合研

• 藤本 弘之

  (独)産業技術総合研究所

• 直井 一也

  (独)産業技術総合研究所

• 高辻 利之

  (独)産業技術総合研究所

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著作論文

• 産総研コーナー 自己校正機能で角度誤差を出力する次世代ロータリエンコーダ
• X線反射率法を用いたSIトレーサブルな膜厚評価 : 試料表面形状評価による不確かさ低減効果
• 円形形体の高精度形状評価法に関する研究(第1報) : 真円度のプロファイル解析の高度化
• 角度誤差を検出できる自己校正機能付ロータリエンコーダ(SelfA) (特集 計測標準フォーラム講演会(2))

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