小飯塚 正明 | 富士通 Ulsi開発部
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概要
関連著者
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金田 寛
富士通 Ulsi開発部
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金田 寛
富士通(株)
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金田 寛
富士通プロセス開発部
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小飯塚 正明
富士通 Ulsi開発部
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小飯塚 正明
富士通プロセス開発部
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小飯塚 正明
富士通デバイス開発部
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金田 寛
富士通デバイス開発部
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稲葉 三智子
富士通デバイス開発部
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白川 良美
富士通プロセス開発部
著作論文
- 31a-ZA-9 シリコン結晶中の酸素析出物界面欠陥によるESR
- 8a-S-1 CZ-Si結晶中の酸素析出欠陥の作る不純物準位の熱的挙動
- 低温赤外吸収による高濃度ドープシリコン基板中の酸素濃度評価 -エピタキシャルウエハーへの適用-
- CZ-Si結晶中の酸素析出関連欠陥の作る不純物準位
- 3p-M-7 CZ-Si結晶のDZ内酸素析出関連欠陥に対するDLTS観測(II)
- 27p-N-9 CZ-Si結晶のDZ内酸素析出関連欠陥に対するDLTS観測