中山 範明 | 広島大学大学院先端物質科学研究科

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概要

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関連著者

• 中山 範明

  広島大学大学院先端物質科学研究科

• 三浦 道子

  広島大学先端物質科学研究科

• 三浦 道子

  広島大学

• 三浦 道子

  広島大学HiSIM研究センター

• 三浦 道子

  広島大学大学院先端物質科学研究科,HiSIM研究センター

• マタウシュ ハンス

  広島大学ナノデバイス・バイオ融合科学研究所

• 山口 哲哉

  Starc

• マタウシュ ハンス

  広島大学先端物質科学研究科半導体集積科学専攻

• マタウシュ ハンス・ユルゲン

  広島大学ナノデバイス・システム研究センター

• 小田中 紳二

  Starc

• 奈良 真治

  広島大学

• 龍見 嘉之

  広島大学

• 熊代 成孝

  STARC

• 中山 範明

  STARC

• 上野 弘明

  広島大学大学院先端物質科学研究科

• 河野 博昭

  広島大学大学院先端物質科学研究科

• マタウシュ ハンス

  広島大学 ナノデバイスシステム研究センター

• 神保 聡

  広島大学大学院先端物質科学研究科

• 森川 慶一

  広島大学ナノデバイス・システム研究センター

• 龍見 嘉之

  広島大学大学院先端物質科学研究科

• 三浦 道子

  広島大学大学院先端物質科学研究科

• マタウシュ ハンス

  広島大学

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著作論文

• MOSFETモデル評価用テスト回路(2) : 入力電圧の微少変化の増幅
• MOSFETモデル評価用テスト回路(1) : しきい値電圧付近の電流領域の評価
• Yパラメタを用いたMOSFET高周波特性記述の検討(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
• Yパラメタを用いたMOSFET高周波特性記述の検討(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)

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