山口 哲哉 | Starc

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概要

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関連著者

• 三浦 道子

  広島大学HiSIM研究センター

• マタウシュ ハンス

  広島大学ナノデバイス・バイオ融合科学研究所

• 山口 哲哉

  Starc

• マタウシュ ハンス

  広島大学先端物質科学研究科半導体集積科学専攻

• 小田中 紳二

  Starc

• 奈良 真治

  広島大学

• 龍見 嘉之

  広島大学

• 熊代 成孝

  STARC

• 中山 範明

  STARC

• マタウシュ ハンス

  広島大学 ナノデバイスシステム研究センター

• 中山 範明

  広島大学大学院先端物質科学研究科

• 龍見 嘉之

  広島大学大学院先端物質科学研究科

• 三浦 道子

  広島大学先端物質科学研究科

• 三浦 道子

  広島大学

• マタウシュ ハンス

  広島大学

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著作論文

• MOSFETモデル評価用テスト回路(2) : 入力電圧の微少変化の増幅
• MOSFETモデル評価用テスト回路(1) : しきい値電圧付近の電流領域の評価

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