宇津木 智 | NEC ULSIデバイス開発研究所
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概要
関連著者
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杉林 直彦
NECデバイスプラットフォーム研究所
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杉林 直彦
Nec Ulsiデバイス開発研究所
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宇津木 智
NEC ULSIデバイス開発研究所
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成竹 功夫
日本電気(株)エレクトロンデバイス・システムlsi設計技術本部
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室谷 樹徳
Nec
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成竹 功夫
NEC ULSIデバイス開発研究所
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杉林 直彦
Nec
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杉林 直彦
NEC・ULSIデバイス開発研究所
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成竹 功夫
NEC・ULSIデバイス開発研究所
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宇津木 智
NEC・ULSIデバイス開発研究所
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室谷 樹徳
NEC・ULSIデバイス開発研究所
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井谷 俊郎
Selete
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芝原 健太郎
広大
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井谷 俊郎
日本電気ULSIデバイス開発研究所
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笠間 邦彦
日本電気ULSIデバイス開発研究所
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及川 隆一
NEC ULSIデバイス開発研究所
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中島 雄二
Nec Ulsiデバイス開発研究所
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奥田 高
Nec Ulsiデバイス開発研究所
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井谷 俊郎
Nec
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藤井 卓哉
NEC マイクロコンピュータ事業部
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大屋 秀市
NEC ULSIデバイス開発研究所
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芝原 健太郎
NEC・ULSIデバイス開発研究所
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及川 隆一
NEC・ULSIデバイス開発研究所
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森 秀光
NEC・ULSIデバイス開発研究所
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巌 庄一
NEC・ULSIデバイス開発研究所
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小山 邦明
NEC・ULSIデバイス開発研究所
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福沢 真一
NEC・ULSIデバイス開発研究所
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井谷 俊郎
NEC・ULSIデバイス開発研究所
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笠間 邦彦
NEC・ULSIデバイス開発研究所
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奥田 高
NEC・ULSIデバイス開発研究所
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大屋 秀市
NEC・ULSIデバイス開発研究所
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小川 正毅
NEC・ULSIデバイス開発研究所
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小山 邦明
NEC ULSIデバイス開発研究所
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羽生 正美
NEC ULSIデバイス開発研究所
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村松 良徳
NEC ULSIデバイス開発研究所
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巌 庄ー
日本電気(株)ULSIデバイス開発研究所
著作論文
- C-12-72 12ns 8MバイトDRAMオンチップ2次キャッシュ
- ファイル応用1GbDRAM
- 大容量ファイルメモリに適した不良アドレス変換回路
- DRAMにおけるチップサイズ縮小時のFMM方式の検討
- ギガビットDRAM用分離ドライバ型センスアンプとチャージリサイクル法
- 1Gb DRAMにおけるアレイノイズの解析
- DRAMにおけるフレキシブルマルチマクロ方式の効果