坪井 真三 | 日本電気 機能デバイス研
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概要
関連著者
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坪井 眞三
Nec機能デバイス研
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坪井 真三
日本電気 機能デバイス研
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田上 勝通
日本電気(株)機能デバイス研究所
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坪井 眞三
NEC機能エレクトロニクス研究所
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是成 貴弘
NEC機能デバイス研
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是成 貴弘
大阪大学大学院基礎工学研究科物理系専攻
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田上 勝通
NEC機能エレクトロニクス研究所
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松寺 久雄
NEC機能デバイス研究所
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松寺 久雄
Nec機能デバイス研
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大嶋 則和
NEC機能エレクトロニクス研究所
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大嶋 則和
Necデバプラ研
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石綿 延行
Necデバプラ研
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法橋 宏高
Nec機能デバイス研
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法橋 宏高
日本電気(株)機能デバイス研究所
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末光 克巳
NEC機能エレクトロニクス研究所
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奥村 俊之
日本電気(株)機能エレクトロニクス研究所
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斉藤 信作
日本電気(株)
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末光 克巳
日本電気(株)
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齋藤 信作
日本電気(株)システムデバイス研究所
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坪井 眞三
日本電気(株)機能デバイス研究所
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石綿 延行
NEC機能デバイス研究所
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浦井 治雄
NEC
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齋藤 信作
NECファイル装置事業部
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坪井 眞三
NEC 機能エレクトロニクス研究所
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是成 貴弘
NEC 機能エレクトロニクス研究所
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石綿 延行
NEC 機能エレクトロニクス研究所
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松寺 久雄
NEC 機能エレクトロニクス研究所
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田上 勝通
NEC 機能エレクトロニクス研究所
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齋藤 信作
NEC ファイル装置事業部
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浦井 治雄
NEC ファイル装置事業部
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斎藤 信作
Nec
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佐藤 明伸
Nec機能エレクトロニクス研究所
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塚本 雄二
NEC機能エレクトロニクス研究所
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岩倉 正幸
ミネベア(株)開発技術センター
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川島 悟之
ミネベア(株)開発技術センター
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高見 昌宜
ミネベア(株)開発技術センター
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奥村 俊之
NEC機能エレクトロニクス研究所
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是成 貴弘
日本電気機能エレクトロニクス研究所
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坪井 眞三
日本電気機能エレクトロニクス研究所
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松寺 久雄
日本電気機能エレクトロニクス研究所
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田上 勝通
日本電気機能エレクトロニクス研究所
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石綿 延行
NEC機能エレクトロニクス研究所
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鈴木 哲広
NECデバイスプラットフォーム研究所
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大嶋 則和
日本電気(株)
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鈴木 哲広
NEC機能デバイス研
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浦井 治雄
NECファイル装置事業部
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浦井 治雄
広島国際大学
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高見 昌宣
ミネベア(株)開発技術センター
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江川 元二
ミネベア(株)開発技術センター
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佐野 章信
ミネベア(株)開発技術センター
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是成 貴弘
日本電気(株)機能エレクトロニクス研究所
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松寺 久雄
日本電気(株)機能エレクトロニクス研究所
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江川 元二
ミネベア(株) 浜松製作所r&dセンター
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鈴木 哲広
Nec機能エレクトロニクス研究所
著作論文
- 垂直2層媒体の記録信号の安定性の外乱磁場方向依存性
- 垂直2層媒体の記録信号の安定性
- 磁気ディスク媒体の磁化回転分布評価と熱揺らぎ減磁過程
- オフトラックノイズ特性に及ぼす記録ヘッドの影響
- Co系薄膜媒体のオフトラックノイズ特性
- SCC-MIGヘッドを用いたコンタクト記録の記録再生特性
- 接触式30%サイズSCC MIGヘッド
- 垂直2層媒体の記録信号の安定性の外乱磁場方向依存性
- サイドイレーズバンド領域のノイズ解析 (磁気ヘッド・磁気記録再生特性)
- サイドイレーズバンド領域のノイズ解析
- オフトラックノイズ特性に及ぼす記録ヘッドの影響
- リバースイレーズエッジノイズの検討
- CoCrPt媒体における記録ノイズの検討
- 再生波形解析による記録ノイズの検討