岡本 直己 | 広島市立大学大学院情報科学研究科

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概要

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• 同名の論文著者
• 広島市立大学大学院情報科学研究科の論文著者

関連著者

• 藤原 秀雄

  奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科

• 細川 利典

  日本大学生産工学部

• 市原 英行

  広島市立大学大学院情報科学研究科

• 岡本 直己

  広島市立大学大学院情報科学研究科

• 市原 英行

  広島市立大学大学院 情報科学研究科

• 井上 智生

  広島市立大学大学院情報科学研究科

• 井上 智生

  広島市立大学大学院 情報科学研究科

• 井上 智生

  広島私立大学情報科学部

著作論文

• ホールド制御削減のための階層テスト容易化設計法(上流 DFT, VLSI 設計とテスト及び一般)
• 強可検査性に基づくデータパスのテストプラン生成アルゴリズムの改良について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般テスト)
• 強可検査性に基づくデータパスのテストプラン生成アルゴリズムの改良について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 強可検査性に基づくデータパスのテストプラン生成アルゴリズムの改良について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 強可検査性に基づくデータパスのテストプラン生成アルゴリズムの改良について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)

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