田中 正一 | 名古屋工業大学
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概要
関連著者
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加藤 正史
名古屋工業大学
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市村 正也
名古屋工業大学機能工学専攻
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木本 恒暢
京都大学工学部電気電子工学科
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中村 俊一
京都大学工学研究科電子工学
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木本 恒暢
京都大学工学研究科
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荒井 英輔
名古屋工業大学大学院工学研究科
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田中 正一
名古屋工業大学
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中村 俊一
京都大学工学研究科
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荒井 英輔
名古屋工業大学
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市村 正也
名古屋工業大学、機能工学専攻
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市村 正也
名古屋工業大学
著作論文
- 4H-SiCエピ層に含まれる深い準位の光励起容量過渡応答(O-CTS)法を用いた評価(結晶成長評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,その他の電子材料))
- 4H-SiCエピ層に含まれる深い準位の光励起容量過渡応答(O-CTS)法を用いた評価(結晶成長評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,その他の電子材料))
- 4H-SiCエピ層に含まれる深い準位の光励起容量過渡応答(O-CTS)法を用いた評価(結晶成長評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,その他の電子材料))