山崎 聡 | 電総研
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概要
関連著者
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山崎 聡
電総研
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山崎 聡
電子技術総合研究所
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田中 一宜
アトムテクノロジー研究体-融合研
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田中 一宜
電総研
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遠藤 裕久
京大理
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梶村 皓二
電総研
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徳本 洋志
電総研
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田村 剛三郎
京大理
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網代 芳民
京大理
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森垣 和夫
物性研
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平林 泉
マックスプランク
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平林 泉
物性研
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山崎 聡
産総研ナノテク部門
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八尾 誠
京大理
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田村 剛三郎
広大総合科
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梶村 皓二
筑波大物質工:電総研
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磯谷 順一
筑波大図情
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磯谷 順一
図書館情報大
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田村 剛三郎
広大総合
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山崎 聡
筑波大学 電子・物理工学専攻
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松田 彰久
電子技術総合研究所
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松田 彰久
産業技術総合研究所薄膜シリコン系太陽電池開発研究ラボ
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松田 彰久
電総研
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田中 一宣
電総研
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山崎 聡
東芝メディカルシステムズ株式会社:jeita超音波専門委員会
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細川 伸也
京大理
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山崎 聡
Jrcat(アトムテクノロジー研究体)-nair(産業技術融合領域研究所)
著作論文
- 12a-DF-14 アモルファスシリコンのパルスESR : スピン緩和から見たダングリングボンドと水素の距離
- 1p-PS-20 a-Si,a-Si:Hにおける弾性表面波伝播
- 4a-A-2 Pドープa-S:Hの光誘起吸収と光誘起吸収検出ESR
- 1a-RM-6 アモルファス・シリコン中の量子二準位
- 31a-F-5 光吸収端
- 1a-UA8 モルデナイト細孔中に閉じ込めた一次元原子鎖の物性
- 光音響分光法(PAS)による局在準位の評価 (アモルファス半導体の評価(技術ノ-ト))
- Cuを含むカルコゲナイドガラス--形式価電子殻(FVS)モデル (アモルファス半導体と新材料) -- (カルコゲナイドガラス)
- 1a-A1-11 一次元セレン-テルル原子鎖の光学的性質(1a A1 金属)