登坂 保弘 | ユーディナデバイス株式会社

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概要

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• 同名の論文著者
• ユーディナデバイス株式会社の論文著者

関連著者

• 矢野 浩

  ユーディナデバイス株式会社

• 中島 成

  ユーディナデバイス株式会社

• 渡邉 昌崇

  ユーディナデバイス株式会社

• 福士 大地

  ユーディナデバイス株式会社

• 登坂 保弘

  ユーディナデバイス株式会社

• 中島 成

  ユーディナデバイス

• 登坂 保弘

  ユーディナデバイス

• 中島 成

  住友電気工業 オプトエレクトロニクス研

著作論文

• i線露光形成によるゲート長0.18μmGaAs-MESFETの信頼性(化合物半導体デバイスの高信頼化技術論文)
• i線露光0.18μmゲートGaAs-MESFETの信頼性(電子デバイスの信頼性と半導体表面・界面制御・評価)
• i線露光0.18μmゲートGaAs-MESFETの信頼性(電子デバイスの信頼性と半導体表面・界面制御・評価)

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