山下 良之 | 阪大・基礎工及び有機光セ

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概要

• 同名の論文著者
• 阪大・基礎工及び有機光セの論文著者

関連著者

• 中戸 義禮

  阪大基礎工及び有機光セ

• 小林 光

  阪大産研:科技団crest

• 山下 良之

  阪大・基礎工及び有機光セ

• 中戸 義禮

  阪大・基礎工及び有機光セ

• 西岡 泰城

  日本TI筑波研究開発セ

• 西岡 泰城

  テキサス・インスツルメンツ筑波研究開発センター

• 小林 光

  新技団

• 小林 光

  阪大・基礎工 有機光セ

• 難波 健治

  阪大・基礎工 有機光セ

• 森 利雄

  阪大・基礎工

著作論文

• シリコンのバンドギャップ内の界面準位 : バイアス電圧印加時のXPS測定
• 28a-S-12 バイアス電圧印加時のXPS測定によるGaAsのバンドギャップ内の界面準位の直接観測

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