串平 孝信 | マニュファクチャリングソリューション
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概要
関連著者
著作論文
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極薄絶縁層とEBG構造の組合せによる広帯域電源デカップリング特性(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
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基板電源層構成のLSI同時スイッチングノイズ(SSN)とEMIへ及ぼす影響(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
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パワーインテグリティと電源コモンモードEMIシミュレーション (第20回 回路とシステム軽井沢ワークショップ論文集) -- (実装設計用シミュレーション)
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極薄絶縁層とEBG構造の組合せによる広帯域電源デカップリング特性(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
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基板電源層構成のLSI同時スイッチングノイズ(SSN)とEMIへ及ぼす影響(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
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基板電源層構成のLSI同時スイッチングノイズ(SSN)とEMIへ及ぼす影響
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極薄絶縁層とEBG構造の組合せによる広帯域電源デカップリング特性
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半導体パッケージの同時スイッチングノイズ(SSN)とEMI(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト技術)
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半導体パッケージの同時スイッチングノイズ(SSN)とEMI(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト技術)
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