服部 佳晋 | (株)豊田中央研究所

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• 只野 博

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• 長瀬 宏

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• 加藤 貴敏

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• 林 宏明

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• 林 宏明

  株式会社豊田中央研究所

• 糸魚川 貢一

  (株)東海理化

• 糸魚川 貢一

  (株)東海理化技術開発センター開発部マイクロシステム開発室

• 岩田 仁

  (株)東海理化電機製作所

• 田中 宏哉

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• 糸魚川 貢一

  東海理化

• 高橋 篤弘

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• 服部 佳晋

  株式会社豊田中央研究所デバイス部

• 泉地 正人

  株式会社デンソー

• 佐藤 和夫

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• 泉地 正人

  (株)デンソー

• 泉地 正人

  (株) デンソー

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著作論文

• オペアンプのRFノイズ耐性の検討
• RFノイズによる電圧レギュレータICのDC出力電圧の変動
• 大振幅RF注入によるMOSFETのDC特性変動の検討
• B-4-15 RFによる電圧レギュレータICのDC出力変動
• RFによる電圧レギュレータICのDC出力変動のシミュレーション
• ICのRFノイズイミュニティ評価法の検討
• RFによるバイポーラトランジスタのDC変動のシミュレーション
• 大振幅RF印加によるバイポーラトランジスタのDC特性変動の一検討 (EMC計測技術論文小特集)
• RF印加によるバイポーラトランジスタの特性変動
• オペアンブのRFノイズ耐性の検討
• オペアンプのRF(Radio Frequency)ノイズ耐性の検討
• ICのイミュニティ評価法の検討
• 大振幅RFによるバイポーラトランジスタのDC特性変動
• R Fによる差動増幅段のオフセット電圧発生要因の検討
• 半導体の RF ノイズイミュニティ(半導体パッケージの EMC)
• オペアンプのRF(Radio Frequency)ノイズ耐性の検討
• BCI(Bulk Current Injection)試験シミュレーションのモデル作成手法の提案(多様化する電磁環境におけるEMC対策設計・評価技術論文)
• 先進自動車エレクトロ二クスの開発動向(IEEE MTT-S名古屋チャプター特別講演,マイクロ波信号発生と計測技術/一般)
• BCI (Bulk Current Injection) 試験シミュレーションのモデル作成手法の提案

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