真田 克 | 高知工科大学工学部電子・光システム工学科

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概要

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• 同名の論文著者
• 高知工科大学工学部電子・光システム工学科の論文著者

関連著者

• 真田 克

  高知工科大学工学部電子・光システム工学科

• 山崎 規雄

  高知工科大学工学部電子・光システム工学科

• 橋田 啓示

  ルネサスデザインシステムLSI第二本部

• 中村 朋矢

  高知工科大学電子・光システム工学科

• 橋田 啓示

  高知工科大学電子・光システム工学科

著作論文

• 簡易ESD装置の開発とその適用検討 : ESD破壊現象の特定(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• 簡易ESD装置の開発とその適用検討 : ESD破壊現象の特定(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
• トランジスタ動作点解析による故障論理の追跡 : フィードバック故障による発振現象の取得(LSIの評価・診断・解析及び,品質)
• LSIの評価・解析を通した品質意識の向上 : 大学での試み(システムの信頼性,信頼性一般)
• トランジスタの動作点解析による故障箇所の特定 : リーク故障が論理動作に与える影響(半導体表面・界面制御・評価と電子デバイスの信頼性)
• トランジスタの動作点解析による故障箇所の特定 : リーク故障が論理動作に与える影響(半導体表面・界面制御・評価と電子デバイスの信頼性)
• トランジスタの動作点解析による故障箇所の特定 : リーク故障が論理動作に与える影響(半導体表面・界面制御・評価と電子デバイスの信頼性)

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