松之内 恵子 | 大阪大学大学院工学研究科

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概要

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• 同名の論文著者
• 大阪大学大学院工学研究科の論文著者

関連著者

• 木村 千春

  大阪大学大学院工学研究科

• 青木 秀充

  大阪大学大学院工学研究科

• 杉野 隆

  大阪大学大学院工学研究科

• 小松 直佳

  大阪大学大学院工学研究科

• 松之内 恵子

  大阪大学大学院工学研究科

• 青木 秀充

  大阪大 大学院工学研究科

• 奥村 幸彦

  舞鶴高専専攻科

• 田中 裕崇

  大阪大学大学院工学研究科

著作論文

• ワイドバンドギャップ半導体用NドープAlSiO膜の特性評価(半導体のプロセス・デバイス(表面,界面,信頼性,一般))
• イットリウムアルミネート(YAlO)薄膜の電気的特性評価(半導体表面・界面制御・評価と電子デバイスの信頼性)
• イットリウムアルミネート(YAlO)薄膜の電気的特性評価(半導体表面・界面制御・評価と電子デバイスの信頼性)
• イットリウムアルミネート(YAlO)薄膜の電気的特性評価(半導体表面・界面制御・評価と電子デバイスの信頼性)

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