高田 啓二 | 日立基礎研
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概要
関連著者
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高田 啓二
日立基礎研
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鳥居 和功
日立・中研
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櫛田 恵子
(株)日立製作所中央研究所ULSI研究所
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高田 啓二
日立・基礎研
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櫛田 恵子
日立・中研
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三木 浩史
(株)日立製作所中央研究所ULSI研究所
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三木 浩史
日立・中研
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入江 隆史
日立・中研
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三木 浩史
(株)日立製作所 中央研究所
著作論文
- C1 トンネル音響顕微鏡によるPZT薄膜の観察(超音波非破壊評価)
- PA-5 歪イメージングによるPZT薄膜の観察(P.ポスターセッションA-概要講演・展示)
- P3-12 プローブ顕微鏡を用いた音響的手法による高分解能物性イメージング(ポスター発表)
- 27pPSB-53 プローブ顕微鏡による磁場誘起歪イメージング(27pPSB 領域3ポスターセッション(酸化物磁性,スピングラス・ランダム・アモルファス系,量子スピン系(一次元系,二次元系),量子スピン系(クラスターおよび一般),フラストレーション系,実験技術開発,磁性一般),領域3(磁性,磁気共鳴))
- 12aPS-128 ひずみイメージングの磁区像解釈(磁性・磁気共鳴, 領域 3)
- F-4 歪イメージングの強磁性材料への適用
- 24pYJ-10 Strain Imagingによるチタン酸ジルコニウム酸鉛の還元劣化現象の研究
- 29p-YD-1 STM応用による圧電性薄膜の新計測法
- E2 原子間力顕微鏡におけるインピーダンスによる力検出方法(測定技術)
- I1 トンネル音響顕微鏡(招待講演)