池田 幸司 | 大阪大学大学院基礎工学研究科
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概要
関連著者
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寒川 雅之
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金島 岳
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大阪大学大学院基礎工学研究科
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池田 幸司
大阪大学大学院基礎工学研究科
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大阪大学
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大阪大学大学院 基礎工学研究科 ナノサイエンスデザイン教育研究センター
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金島 岳
大阪大学大学院基礎工学研究科物理系専攻
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大阪大学大学院基礎工学研究科電子光科学領域
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吉田 真人
大阪大学基礎工学研究科電子光科学領域
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吉田 真人
大阪大学大学院基礎工学研究科システム創成専攻電子光科学領域
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神田 浩文
大阪大学大学院基礎工学研究科物理系専攻機能材料デバイス講座
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多田 泰三
大阪大学大学院基礎工学研究科
著作論文
- ESRによるHfO_2薄膜の欠陥評価(ゲート絶縁膜,容量膜,機能膜及びメモリ技術)
- PLDにより製膜したHf酸化物の界面評価(半導体Si及び関連材料・評価)
- High-k PrOχゲート絶縁膜の電気的・光学的特性